Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/200407
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Titel: 
A compact electron beam ion source for highly charged ion experiments at remote large-scale user facilities
en
Zitat: 
Thima, D., Niggas, A., Werl, M., Szabo, G., Laux, P., Schmidt, M., Zschornack, G., Aumayr, F., & Wilhelm, R. A. (2024). A compact electron beam ion source for highly charged ion experiments at remote large-scale user facilities. In 21st Highly Charged Ions Conference: Book of Abstracts (pp. 56–56). http://hdl.handle.net/20.500.12708/200407
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Thima, Daniel 
Niggas, Anna 
Werl, Matthias 
Szabo, Gabriel 
Laux, P. 
Schmidt, M. 
Zschornack, G. 
Aumayr, Friedrich 
Wilhelm, Richard Arthur 
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Organisations­einheit: 
E134-03 - Forschungsbereich Atomic and Plasma Physics 
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Erschienen in: 
21st Highly Charged Ions Conference: Book of Abstracts 
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Datum (veröffentlicht): 
5-Sep-2024
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Veranstaltungs­name: 
21st Highly Charged Ion Conference (HCI-21) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
2-Sep-2024 - 6-Sep-2024
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Veranstaltungs­ort: 
Egmond aan Zee, Niederlande (die)
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Umfang: 
1
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Keywords: 
highly charged ions; ion source
en
Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 20%
Surfaces and Interfaces: 80%
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Wissenschafts­zweig: 
1030 - Physik, Astronomie: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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aufgerufen am 11.09.2024

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