DC Field
Value
Language
dc.contributor.advisor
Wanzenböck, Heinz
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dc.contributor.author
Knafl, Sebastian
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dc.date.accessioned
2024-10-30T10:25:06Z
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dc.date.issued
2024
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dc.date.submitted
2024-10
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dc.identifier.citation
<div class="csl-bib-body"> <div class="csl-entry">Knafl, S. (2024). <i>Deep Learning Image Segmentation for FIB-SEM Tomography: How Nanoparticles are Incorporated in Human Cells</i> [Diploma Thesis, Technische Universität Wien]. reposiTUm. https://doi.org/10.34726/hss.2024.112440</div> </div>
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dc.identifier.uri
https://doi.org/10.34726/hss.2024.112440
-
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.12708/203798
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dc.description
Arbeit an der Bibliothek noch nicht eingelangt - Daten nicht geprüft - gesperrte Arbeit (bis 2025-11-01+02:00)
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dc.description
Abweichender Titel nach Übersetzung der Verfasserin/des Verfassers
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dc.language
English
-
dc.language.iso
en
-
dc.rights.uri
http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
-
dc.subject
Metall-Nanopartikel
de
dc.subject
fokussierter Ionenstrahl
de
dc.subject
Querschnittsbilder
de
dc.subject
maschinelles Lernen
de
dc.subject
metal nanoparticles
en
dc.subject
focused ion beam
en
dc.subject
cross-section images
en
dc.subject
machine learning
en
dc.title
Deep Learning Image Segmentation for FIB-SEM Tomography: How Nanoparticles are Incorporated in Human Cells
en
dc.title.alternative
Deep Learning Bildsegmentierung für FIB-SEM-Tomographie: Wie Nanopartikel in menschliche Zellen aufgenommen werden
de
dc.type
Thesis
en
dc.type
Hochschulschrift
de
dc.rights.license
In Copyright
en
dc.rights.license
Urheberrechtsschutz
de
dc.identifier.doi
10.34726/hss.2024.112440
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dc.contributor.affiliation
TU Wien, Österreich
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dc.rights.holder
Sebastian Knafl
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dc.publisher.place
Wien
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tuw.version
vor
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tuw.thesisinformation
Technische Universität Wien
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dc.contributor.assistant
Prado Lopez, Sonia
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tuw.publication.orgunit
E362 - Institut für Festkörperelektronik
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dc.type.qualificationlevel
Diploma
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dc.identifier.libraryid
AC17344342
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dc.description.numberOfPages
136
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dc.thesistype
Diplomarbeit
de
dc.thesistype
Diploma Thesis
en
dc.rights.identifier
In Copyright
en
dc.rights.identifier
Urheberrechtsschutz
de
tuw.advisor.staffStatus
staff
-
tuw.assistant.staffStatus
staff
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item.openairetype
master thesis
-
item.openaccessfulltext
Open Access
-
item.grantfulltext
embargo_20251130
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item.openairecristype
http://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc
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item.fulltext
with Fulltext
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item.cerifentitytype
Publications
-
item.languageiso639-1
en
-
crisitem.author.dept
E362-02 - Forschungsbereich Nanoelektronische Bauelemente
-
crisitem.author.parentorg
E362 - Institut für Festkörperelektronik
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Appears in Collections:
Thesis
Knafl Sebastian - 2024 - Deep Learning Image Segmentation for FIB-SEM Tomography...pdf
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