Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/215585
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Titel: 
High-Resolution TEM (HRTEM) for Atomic-Scale Imaging of Nanoparticles
en
Zitat: 
Bernardi, J. (2025). High-Resolution TEM (HRTEM) for Atomic-Scale Imaging of Nanoparticles. In T. Burczyński, M. Giersig, & I. Pokorska-Służalec (Eds.), NIAF 2025 : International Conference on Nanotechnology: Innovations and Applications for the Future : Book of Abstracts (pp. 11–12). Institute of Fundamental Technological Research of the Polish Academy of Sciences (IPPT PAN). http://hdl.handle.net/20.500.12708/215585
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Bernardi, Johannes 
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Organisations­einheit: 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
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Erschienen in: 
NIAF 2025 : International Conference on Nanotechnology: Innovations and Applications for the Future : Book of Abstracts 
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ISBN: 
978-83-65550-60-6
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DOI des Buches: 
10.24423/niaf2025
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Datum (veröffentlicht): 
13-Apr-2025
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Veranstaltungs­name: 
International Conferece on Nanotechnology: Innovations and Applications for the Future (NIAF 2025) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
13-Apr-2025 - 15-Apr-2025
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Veranstaltungs­ort: 
Wien, Österreich
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Umfang: 
2
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Verlag: 
Institute of Fundamental Technological Research of the Polish Academy of Sciences (IPPT PAN), Warschau
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Keywords: 
TEM; atomic scale; Nanoparticles
en
Forschungs­infrastruktur: 
Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie 
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Surfaces and Interfaces: 50%
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Wissenschafts­zweig: 
1030 - Physik, Astronomie: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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