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<div class="csl-entry">Waldhör, D., Karl, A., Verdianu, A., Bahrami, M., Knobloch, T., & Grasser, T. (2025, October). <i>Insights from Hysteresis Analysis in 2D MOSFETs</i> [Conference Presentation]. IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), South Lake Tahoe, United States of America (the). http://hdl.handle.net/20.500.12708/224427</div>
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http://hdl.handle.net/20.500.12708/224427
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dc.description.sponsorship
European Commission
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dc.language.iso
en
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dc.subject
2D materials
en
dc.subject
reliability
en
dc.subject
hysteresis
en
dc.title
Insights from Hysteresis Analysis in 2D MOSFETs
en
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Presentation
en
dc.type
Vortrag
de
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101021351
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dc.type.category
Conference Presentation
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invited
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tuw.project.title
Fluoride für die nächste Generation von 2D Nanoelektronik
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Vienna Scientific Cluster
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tuw.researchinfrastructure
Zentrum für Mikro & Nanostrukturen
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Q4
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C6
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Nanoelectronics
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Modeling and Simulation
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40
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60
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tuw.publication.orgunit
E360-01 - Forschungsbereich Mikroelektronik
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0000-0002-8631-5681
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tuw.author.orcid
0000-0003-2221-8038
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tuw.author.orcid
0000-0001-5156-9510
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IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)
en
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05-10-2025
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09-10-2025
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On Site
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Event for scientific audience
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South Lake Tahoe
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US
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Waldhör, Dominic
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Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik
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2020
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Publications
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no Fulltext
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E360-01 - Forschungsbereich Mikroelektronik
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crisitem.author.dept
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crisitem.author.dept
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E360-01 - Forschungsbereich Mikroelektronik
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crisitem.author.dept
E360-01 - Forschungsbereich Mikroelektronik
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E360 - Institut für Mikroelektronik
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0000-0003-2221-8038
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E360 - Institut für Mikroelektronik
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E360 - Institut für Mikroelektronik
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E360 - Institut für Mikroelektronik
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E350 - Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
