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<div class="csl-entry">Padovan, V. (2021). <i>Characterization of hot electron degradation in GaN based HEMTs</i> [Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/79664</div>
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dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.12708/79664
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dc.description
Zusammenfassung in deutscher Sprache
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dc.description
Abweichender Titel nach Übersetzung der Verfasserin/des Verfassers
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dc.format
105, 2 Blätter
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dc.language
English
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dc.language.iso
en
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dc.subject
GaN
de
dc.subject
HEMT
de
dc.subject
Halbleiterbauelement
de
dc.subject
Zuverlaessigkeit
de
dc.subject
heisse Elektronen
de
dc.subject
GaN
en
dc.subject
HEMT
en
dc.subject
semiconductor device
en
dc.subject
reliability
en
dc.subject
hot electron degradation
en
dc.title
Characterization of hot electron degradation in GaN based HEMTs
en
dc.title.alternative
Charakterisierung der Degradation durch heiße Elektronen in GaN-basierten HEMTs