IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

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Description

Event name
IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
 
Event type
Event for scientific audience
 
Start date
27-06-2005
End date
01-07-2005
 
Location
Singapore
Country
 
Event format Veranstaltungsformat
On Site

Publications Publikationen

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VorschauAutor_in(nen)TitelDokumenttypErscheinungs­datum
21Makarov, Alexander ; Sverdlov, Viktor ; Selberherr, Siegfried Stochastic Modeling of the Resistive Switching Mechanism in Oxide-Based MemoryKonferenzbeitrag Inproceedings2010
22Singulani, A.P. ; Ceric, H. ; Langer, E. Stress evolution on tungsten thin-film of an open through silicon via technologyKonferenzbeitrag Inproceedings2013
23Bury, E. ; Degraeve, R. ; Cho, M. ; Kaczer, Ben ; Gös, Wolfgang ; Grasser, Tibor ; Horiguchi, N. ; Groeseneken, G. Study of (correlated) trap sites in SILC, BTI and RTN in SiON and HKMG DevicesKonferenzbeitrag Inproceedings2014
24Ceric, Hajdin ; Orio, Roberto ; Cervenka, Johann ; Selberherr, Siegfried TCAD Solutions for Submicron Copper InterconnectKonferenzbeitrag Inproceedings2008
25Ceric, Hajdin ; Orio, Roberto ; Cervenka, Johann ; Selberherr, Siegfried The Effect of Microstructure on Electromigration Induced VoidsKonferenzbeitrag Inproceedings2009
26Orio, Roberto ; Ceric, Hajdin ; Cervenka, Johann ; Selberherr, Siegfried The Effect of Microstructure on the Electromigration Lifetime DistributionKonferenzbeitrag Inproceedings2009
27Holzer, Stefan ; Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Karner, Markus ; Grasser, Tibor ; Langer, Erasmus ; Selberherr, Siegfried Three-Dimensional Transient Interconnect Analysis With Regard to Mechanical StressKonferenzbeitrag Inproceedings2006
28Makarov, Alexander ; Sverdlov, Viktor ; Selberherr, Siegfried Transverse domain wall formation in a free layer: A mechanism for switching failure in a MTJ-based STT-MRAMKonferenzbeitrag Inproceedings2013
29Gös, Wolfgang ; Toledano-Luque, M. ; Baumgartner, Oskar ; Bina, Markus ; Schanovsky, Franz ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor Understanding Correlated Drain and Gate Current FluctuationsKonferenzbeitrag Inproceedings2013
30Osintsev, Dimitry ; Makarov, Alexander ; Sverdlov, Viktor ; Selberherr, Siegfried Using strain to increase the reliability of scaled spin MOSFETsKonferenzbeitrag Inproceedings2013