52. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft

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Description

Event name
52. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
 
Event type
Event for scientific audience
 
Start date
23-09-2002
End date
26-09-2002
 
Location
Leoben
Country
Austria
 
Event format Veranstaltungsformat
On Site

Publications Publikationen

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VorschauAutor_in(nen)TitelDokumenttypErscheinungs­datum
21Pepponi, Giancarlo ; Beckhoff, B. ; Ehmann, T. ; Ulm, G. ; Streli, Christina ; Pahlke, S. ; Fabry, L. NEXAFS Spectroscopy of organic Contamination on Si Wafers by TXRF: First ResultsPräsentation Presentation2002
22Lileev, A.S. ; Parilov, A.A. ; Reissner, Michael ; Steiner, Walter On the Spin Reorientation Transition of Nd-Fe-B Film and Bulk MagnetsPräsentation Presentation2002
23Varga, Peter ; Klein, C. ; Kresse, G. ; Lundgren, Edvin ; Borg, M. ; Andersen, Jesper N. ; De Santis, Maurizio ; Gauthier, Y. ; Konvicka, C. ; Schmid, Michael Oxidation of Pd(111): A Two-Dimensional Surface OxidePräsentation Presentation2002
24Poljanc, Karin ; Aiginger, H. Photonen- versus Protonentherapie - Ein Bestrahlungsvergleich von Metastasen im SchädelbereichPräsentation Presentation2002
25Berger, Thomas ; Kirisits, C. ; Georg, D. Radiale Tiefendosiskurve für BEta Quellen in der Endovaskulären BrachytherapiePräsentation Presentation2002
26Wobrauschek, Peter ; Zöger, N. ; Pepponi, Giancarlo ; Streli, Christina ; Zamini, Shokufeh SSSR-XRF of Bone Samples: Differences in Pb and other Trace Element Concentrations in Bone Transition ZonesPräsentation Presentation2002
27Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter ; Pianetta, P. ; Baur, K. ; Pahlke, S. ; Fabry, L. ; Mantler, C. ; Kanngießer, B. ; Malzer, W. Synchrotron Radiation induced TXRF of low Z Elements on Si Wafer Surfaces at SSRL.Beamline 3-3: Surface Contaminations and Depth ProfilesPräsentation Presentation2002
28Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter ; Beckhoff, B. ; Ulm, G. ; Pahlke, S. ; Fabry, L. ; Ehmann, T. ; Kanngießer, B. ; Malzer, W. Synchrotron Radiation induced TXRF of low Z Elements: Analysis of Si Wafer Surfaces at the PTB Undulator Beamline at BESSY II - recent ResultsPräsentation Presentation2002
29Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter Synchrotronstrahlungsinduzierte RöntgenfluoreszenzanalysePräsentation Presentation2002
30Pepponi, Giancarlo ; Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Zamini, Shokufeh ; Zöger, N. Various SR-TXRF Excitation-Detection Geometries for Samples with differing Matrices: A ComparisonPräsentation Presentation2002
31Biedermann, Albert Versteckte ferromagnetische Strukturen in ultradünnen EisenfilmenPräsentation Presentation2002
32Steiner, S. ; König, F. ; Aiginger, H. ; Leitha, T. Visualisierung der Auswirkung von Grenzwertüberschreitungen der Qualitätskontrollparameter an der GammakameraPräsentation Presentation2002
33Bichler, Max Vulkanische Eruptionsprodukte als Datierungsmittel für die ArchäologiePräsentation Presentation2002