Ultramicroscopy

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Journal description

Title Titel
Ultramicroscopy
 
e-ISSN
1879-2723
 
ISSN
0304-3991
 
Publisher Herausgeber
ELSEVIER
 
Publisher's Address Herausgeber Adresse
RADARWEG 29, AMSTERDAM, Netherlands, 1043 NX
 
Listed in SCI Aufgelistet im SCI
 
Peer reviewed Begutachtet
 
 

Publications Publikationen

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Author:  Schachinger, Thomas

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Řiháček, T. ; Horák, M. ; Schachinger, T. ; Mika, F. ; Matějka, M. ; Krátký, S. ; Fořt, T. ; Radlička, T. ; Johnson, C.W. ; Novák, L. ; Sed’a, B. ; McMorran, B.J. ; Müllerová, I. Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscopeArtikel Article 2021
2Scheucher, Michael ; Schachinger, Thomas ; Spielauer, Thomas ; Stöger-Pollach, Michael ; Haslinger, Philipp Discrimination of coherent and incoherent cathodoluminescence using temporal photon correlationsArticle Artikel 18-Aug-2022
3Schachinger, T. ; Löffler, S. ; Steiger-Thirsfeld, A. ; Stöger-Pollach, M. ; Schneider, S. ; Pohl, D. ; Rellinghaus, B. ; Schattschneider, P. EMCD with an electron vortex filter: Limitations and possibilitiesArtikel Article 2017
4Schachinger, Thomas ; Hartel, P. ; Lu, P. ; Löffler, Stefan ; Obermair, Martin ; Dries, M ; Gerthens, D ; Dunin-Borkowski, Rafal ; Schattschneider, Peter Experimental realization of a 𝜋/2 vortex mode converter for electrons using a spherical aberration correctorArtikel Article 2021
5Schachinger, T. ; Löffler, S. ; Stöger-Pollach, M. ; Schattschneider, P. Peculiar rotation of electron vortex beamsArtikel Article 2015
6Stöger-Pollach, Michael ; Schachinger, Thomas ; Biedermann, Kati ; Beyer, Volkhard Valence EELS below the limit of inelastic delocalization using conical dark field EFTEM or Bessel beamsArtikel Article 2017
7Kramberger, C. ; Löffler, S. ; Schachinger, T. ; Hartel, P. ; Zach, J. ; Schattschneider, P. π/2 mode converters and vortex generators for electronsArtikel Article 2019