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Full name Familienname, Vorname
Mantler, Michael
 
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Own Publications Eigene Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Hahn, O. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Sokaras, D. ; Mantler, Michael Reference-free x-ray fluorescence analysis of an ancient Chinese ceramicArtikel Article 14-May-2008
2Kataoka, Y. ; Kohno, H. ; Furusawa, E. ; Mantler, M. XRF analysis of Zn-Fe alloy coatings by using measurements at two take-off anglesArtikel Article2007
3Mantler, Michael ; Vrebos, B. ; Elam, W.T. Quantitative Analysis 2Präsentation Presentation2007
4Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Mantler, Michael Reference-free X-ray fluorescence analysisPräsentation Presentation2007
5Mantler, Michael ; Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Hahn, O. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Sokaras, D. Reference-free X-ray fluorescence analysis: Part 2: Theoretical ConsiderationsPräsentation Presentation2007
6Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Hahn, O. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Sokaras, D. ; Mantler, Michael Reference-free X-ray fluorescence analysis with synchrotron radiationPräsentation Presentation2007
7Chyba, Björn ; Mantler, Michael ; Reiter, M. Monte-Carlo Simulation of Projections in Computed TomographyPräsentation Presentation2007
8Mantler, Michael ; Vrebos, B. ; Elam, W.T. Quantitative Analysis 1Präsentation Presentation2007
9Ebel, Horst ; Mantler, Michael Photoelectric absoprtion in Al, Ca and Cu in the phonton energy range 0.1 keV#ltE#lt10keVPräsentation Presentation2006
10Beckhoff, B. ; Gerlach, M. ; Kolbe, M. ; Müller, Martin ; Ulm, G. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Geralis, T. ; Kousuris, K. ; Kawahara, N. ; Yamada, T. ; Mantler, Michael Enhancement of x-ray fluorescence of light elements by photoelectron secondary excitationPräsentation Presentation2006
11Kataoka, Y. ; Kohno, H. ; Furusawa, E. ; Mantler, Michael Anlysis of Zn-Fe alloy coatings by using measurements under two take-off anglesPräsentation Presentation2006
12Mantler, Michael ; Kataoka, Y. ; Kohno, H. ; Furusawa, E. Analysis of Zn-Fe Alloy Coatings by Using a Multi-Channel X-ray Spectrometer with two Take-Off AnglesPräsentation Presentation2006
13Mantler, Michael ; Kataoka, Y. ; Kawahara, N. ; Hara, S. ; Yamada, Y. ; Matsuo, T. A Standardless Fundamental Parameter Method Based on Scattering X-rays and Monte Carlo SimulationPräsentation Presentation2006
14Kawahara, N. ; Kataoka, Y. ; Hara, S. ; Yamada, Y. ; Matsuo, T. ; Mantler, Michael Fundamental parameter method using scattering x-rays and Monte-Carlo SimulationPräsentation Presentation2006
15Kataoka, Y. ; Furusawa, E. ; Kohno, H. ; Arai, T. ; Martin, A. ; Inoue, H. ; Mantler, Michael SIMULTANEOUS ANALYSIS OF NICKEL ALLOYS AND HIGH ALLOY STEELS USING THE FUNDAMENTAL PARAMETER METHODPräsentation Presentation2006
16Mantler, Michael Sherman's equation: Two points of viewPräsentation Presentation2006
17Pahlke, S. ; Meirer, F. ; Wobrauschek, Peter ; Streli, Christina ; Westphal, G. P. ; Mantler, Michael Adaptation of a commercial total reflection X-ray fluorescence system for wafer surface analysis equipped with a new generation of silicon drift detectorArtikel Article2006
18Kataoka, Y. ; Kawahara, N. ; Hara, S. ; Yamada, Y. ; Matsuo, T. ; Mantler, Michael FUNDAMENTAL PARAMETER METHOD USING SCATTERING X-RAYS IN X-RAY FLUORESCENCE ANALYSISKonferenzbeitrag Inproceedings2006
19Gardner, R.P. ; Sood, A. ; Mantler, Michael ; Guo, W. Monte Carlo Techniques in XRFPräsentation Presentation2005
20Mantler, Michael 50 Years sherman's equations: what is the future?Präsentation Presentation2005

Contributing Publications Mitbeteiligte Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Urschler, Michael Zur spektralen Linienform in der energiedispersiven RöntgenanalytikThesis Hochschulschrift2008
2Şimşek, Atakan Quantitative Röntgenfluoreszenzanalyse unter Verwendung von StreuintensitätenThesis Hochschulschrift2007
3Halavani, Zahra Der Kaskadeneffekt in der RöntgenfluoreszenzanalyseThesis Hochschulschrift2007
4Chyba, Björn Monte-Carlo-Simulation von Streustrahlung als Referenzgröße in der RöntgenfluoreszenzanalyseThesis Hochschulschrift2006
5Zamini, Shokufeh Depth profiles of light elements in silicon wafersThesis Hochschulschrift2005
6Palfinger, Werner Bildgebende Röntgenfluoreszenzanalyse an KunstobjektenThesis Hochschulschrift2004
7Waibel, Markus Short coherence laser Doppler velocimetryThesis Hochschulschrift2003
8Paris, Alfred Anwendung der Bragg-Profilanalyse zur Bestimmung von verformungsinduzierten Versetzungen in PolypropylenThesis Hochschulschrift2002
9Hochleitner, Bernadette Identifizierung und Charakterisierung von historischen Farbpigmenten mit Hilfe von Röntgendiffraktometrie (XRD), Röntgenfluoreszenzanalyse(RFA) und Fouriertransformierter Infrarotspektroskopie (FTIR)Thesis Hochschulschrift2002