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Hobler, Gerhard
 
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1Balden-2023-Nuclear Materials and Energy-vor.pdf.jpgBalden, M. ; Schlueter, K ; Dhard, D. ; Bauer, P. ; Nilsson, R. ; Granberg, F. ; Nordlund, K. ; Hobler, Gerhard Crystal-orientation-dependent physical sputtering from four elemental metalsArticle Artikel Dec-2023
2Hoeflich-2023-Applied Physics Reviews-vor.pdf.jpgHöflich, Katja ; Hobler, Gerhard ; Allen, Frances I. ; Wirtz, Tom ; Rius, Gemma ; McElwee-White, Lisa ; Krasheninnikov, Arkady V. ; Schmidt, Matthias ; Utke, Ivo ; Klingner, Nico ; Osenberg, Markus ; Córdoba, Rosa ; Djurabekova, Flyura ; Manke, Ingo ; Moll, Philip ; Manoccio, Mariachiara ; De Teresa, José María ; Bischoff, Lothar ; Michler, Johann ; De Castro, Olivier ; Delobbe, Anne ; Dunne, Peter ; Dobrovolskiy, Oleksandr V. ; Frese, Natalie ; Gölzhäuser, Armin ; Mazarov, Paul ; Koelle, Dieter ; Möller, Wolfhard ; Pérez-Murano, Francesc ; Philipp, Patrick ; Vollnhals, Florian ; Hlawacek, Gregor Roadmap for focused ion beam technologiesArticle Artikel Dec-2023
3Höflich, K. ; Hobler, Gerhard ; Allen, F. ; Wirtz, T. ; Rius, G. ; Hlawacek, Gregor IB-ThP-2 Roadmap for Focused Ion Beam TechnologiesInproceedings Konferenzbeitrag9-Nov-2023
4Wilhelm, Richard Arthur ; Deuzeman, M. J. ; Rai, S. ; Husinsky, Wolfgang ; Szabo, P. S. ; Biber, Herbert Alexander ; Stadlmayr, Reinhard ; Cupak, Christian ; Hundsbichler, J. ; Lemell, Christoph ; Möller, W. ; Mutzke, A. ; Hobler, Gerhard ; Versolato, O. O. ; Aumayr, Friedrich ; Hoekstra, R. On the missing single collision peak in low energy heavy ion scatteringArticle Artikel Nov-2023
5Titze-2023-Micromachines-vor.pdf.jpgTitze, Michael ; Poplawsky, Jonathan D. ; Kretschmer, Silvan ; Krasheninnikov, Arkady V. ; Doyle, Barney L. ; Bielejec, Edward S. ; Hobler, Gerhard ; Belianinov, Alex Measurement and Simulation of Ultra-Low-Energy Ion–Solid Interaction DynamicsArticle Artikel Oct-2023
6Tabean, Saba ; Mousley, Michael ; Hobler, Gerhard ; De Castro, Olivier ; Wirtz, Tom ; Eswara, Santhana Analyses of Contrast in keV Scanning Transmission Helium Ion MicroscopyInproceedings Konferenzbeitrag27-Jun-2023
7Hobler, Gerhard IMSIL: Recent Developments and Future PlansPresentation Vortrag28-Mar-2023
8Hobler, Gerhard ; Bradley, R. Mark Sputtering from Sinusoidal Surfaces: Monte Carlo Simulations and Comparison to Analytical ResultsInproceedings Konferenzbeitrag27-Mar-2023
9Bradley, R. Mark ; Hobler, Gerhard Sputter yields of surfaces with nanoscale textures: Analytical results and Monte Carlo simulationsArticle Artikel 14-Feb-2023
10Bradley, R. Mark ; Hobler, Gerhard Second order corrections to the sputter yield of a curved surfaceArtikel Article 2021
11Schlueter, K. ; Nordlund, K. ; Hobler, G. ; Balden, M. ; Granberg, F. ; Flinck, O. ; da Silva, T. F. ; Neu, R. Absence of a Crystal Direction Regime in which Sputtering Corresponds to Amorphous MaterialArtikel Article 2020
12Schlueter, K ; Nordlund, K ; Balden, M ; Silva, T.F. ; Hobler, Gerhard ; Neu, Rudolf Crystal-Orientation-Dependent Sputtering of TungstenPräsentation Presentation2019
13Hobler, G. ; Maciążek, D. ; Postawa, Z. Ion bombardment induced atom redistribution in amorphous targets: MD versus BCAArtikel Article 2019
14Hobler, G. ; Nordlund, K. Channeling maps for Si ions in Si: Assessing the binary collision approximationArtikel Article 2019
15Current, M. ; Hobler, Gerhard ; Kawasaki, Y. Aspects of Highly-channeled MeV Implants of Dopants in Si(100)Konferenzbeitrag Inproceedings2019
16Urbassek, Herbert M. ; Nietiadi, Maureen L. ; Bradley, R. Mark ; Hobler, Gerhard Sputtering of SicGe₁₋c nanospheresArtikel Article 10-Apr-2018
17Current, M. ; Hobler, Gerhard ; Kawasaki, Y. ; Sugitani, M. Channeled MeV B, P and As Profiles in Si(100): Monte-Carlo Models and SIMSKonferenzbeitrag Inproceedings2018
18Hobler, Gerhard ; Nordlund, K ; Current, M. ; Schustereder, Werner Simulation Study of Al Channeling in 4H-SiCKonferenzbeitrag Inproceedings2018
19Hobler, Gerhard ; Maciazek, D ; Postawa, Z Ion bombardment-induced atom redistribution in amorphous silicon: MD versus BCAPräsentation Presentation2018
20Hobler, Gerhard ; Nordlund, K Channeling maps: Assessing the binary collision approximationPräsentation Presentation2018

Contributing Publications Mitbeteiligte Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Kainz, Harald Simulation und experimentelle Verifikation von mechanischen Verspannungen in thermisch oxidierten Silizium NanodrähtenThesis Hochschulschrift2018
2Ebm, Christoph Simulation of ion beam induced etching and depositionThesis Hochschulschrift2010
3Wind, Michael Interaction of ionizing radiation fields with integrated electronic componentsThesis Hochschulschrift2009
4Zahel, Thomas Modelling defect formation and evolution during SOI wafer fabricationThesis Hochschulschrift2009
5Kim, Hueng-Bae Design, simulation and fabrication of micro/nano functional structures using ion beamsThesis Hochschulschrift2007
6Zahel, Thomas Investigation of the isotope effect in hydrogen-induced blistering of silicon using kinetic Monte Carlo simulationThesis Hochschulschrift2004