Friedbacher, Gernot

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Friedbacher, Gernot
 
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161Glaser, Andreas ; Foisner, Johann ; Kattner, Jürgen ; Hoffmann, Helmuth ; Friedbacher, Gernot Investigation of the Role of Water in the Growth of Alkylsiloxane MonolayersPräsentation Presentation2002
162Nakamura, E. ; Hirakuri, K. K. ; Ohyama, M. ; Friedbacher, Gernot ; Mutsukura, N. High Quality chemical vapor deposition diamond growth on iron and stainless steel substratesArtikel Article2002
3Friedbacher, Gernot Scanning Probe MicroscopyBuchbeitrag Book Contribution2002
4Friedbacher, Gernot Scanning Probe MicroscopyBuchbeitrag Book Contribution2002
5Kranz, C. ; Mizaikoff, Boris ; Friedbacher, Gernot ; Lugstein, Alois ; Smoliner, Jürgen ; Bertagnolli, Emmerich Combining SECM and AFM - Integration of an Ultramicroelectrode in an AFM-TipPräsentation Presentation2001
6Friedbacher, Gernot Materialcharakterisierung mittels RastersondenmikroskopiePräsentation Presentation2000
7Friedbacher, Gernot Oberflächenuntersuchung mittels RastersondenmikroskopiePräsentation Presentation2000
8Friedbacher, Gernot Rastersondenmikroskopie und selbstorganisierende Dünnfilme: Möglichkeiten der Charakterisierung und MethodenentwicklungPräsentation Presentation2000
9Dreer, Sabine ; Wilhartitz, Peter ; Piplits, Kurt ; Hutter, Herbert ; Kopnarski, M ; Friedbacher, Gernot Quantitative Sputter Depth Profiling on Silicon- and Aluminium Oxinitride FilmsArtikel Article2000
10Kranz, C. ; Friedbacher, Gernot ; Mizaikoff, Boris ; Lugstein, Alois ; Smoliner, Jürgen ; Bertagnolli, Emmerich Combining SECM and AFM - Integration of an Ultramicroelectrode in an AFM-TipPräsentation Presentation2000