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Carniello, Sara
 

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1Coppeta, Raffaele ; Lahlalia, Ayoub ; Kozic, Darjan ; Hammer, René ; Riedler, Johann ; Toschkoff, Gregor ; Singulani, Anderson ; Ali, Zeeshan ; Sagmeister, Martin ; Carniello, Sara ; Selberherr, Siegfried ; Filipovic, Lado Electro-Thermal-Mechanical Modeling of Gas Sensor HotplatesBuchbeitrag Book Contribution2020
2Filipovic, Lado ; Singulani, Anderson P. ; Roger, Frederic ; Carniello, Sara ; Selberherr, Siegfried Impact of across-wafer variation on the electrical performance of TSVsKonferenzbeitrag Inproceedings 2016
3Roger, Frederic ; Singulani, Anderson ; Carniello, Sara ; Filipovic, Lado ; Selberherr, Siegfried Global statistical methodology for the analysis of equipment parameter effects on TSV formationKonferenzbeitrag Inproceedings2015
4Filipovic, Lado ; Singulani, Anderson P. ; Roger, Frederic ; Carniello, Sara ; Selberherr, Siegfried Intrinsic Stress Analysis of Tungsten-Lined Open TSVsKonferenzbeitrag Inproceedings2015
5Filipovic, Lado ; Singulani, Anderson Pires ; Roger, Frederic ; Carniello, Sara ; Selberherr, Siegfried Intrinsic Stress Analysis of Tungsten-Lined Open TSVsArtikel Article 2015
6Starkov, Ivan ; Tyaginov, S. E. ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Analysis of Worst-Case Hot-Carrier Conditions for High Voltage Transistors Based on Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
7Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Hot-Carrier Degradation Modeling Using Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
8Starkov, Ivan ; Tyaginov, S. E. ; Enichlmair, H. ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor HC Degradation Model: Interface State Profile-Simulations vs. ExperimentKonferenzbeitrag Inproceedings2010
9Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2010
10Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, J.M. ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingArtikel Article2010
11Orio, Roberto ; Carniello, Sara ; Ceric, Hajdin ; Selberherr, Siegfried Analysis of Electromigration in Dual-Damascene Interconnect StructuresKonferenzbeitrag Inproceedings2008