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Minixhofer, R.
 

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1Michl, J. ; Grill, Alexander ; Stampfer, B. ; Waldhoer, D. ; Schleich, Christian ; Knobloch, T. ; Ioannidis, E. ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. ; Kaczer, B. ; Parvais, B. ; Govoreanu, Bogdan ; Radu, I. ; Grasser, T. ; Waltl, M. Evidence of Tunneling Driven Random Telegraph Noise in Cryo-CMOSInproceedings Konferenzbeitrag2021
2Baer, E. ; Evanschitzky, P. ; Lorenz, J. ; Roger, F. ; Minixhofer, R. ; Filipovic, L. ; de Orio, R.L. ; Selberherr, S. Coupled Simulation to Determine the Impact of Across Wafer Variations in Oxide PECVD on Electrical and Reliability Parameters of Through-Silicon ViasArtikel Article 2015
3Sharma, Prateek ; Tyaginov, S. E. ; Wimmer, Yannick ; Rudolf, Florian ; Rupp, Karl ; Bina, Markus ; Enichlmair, H. ; Park, J.M. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Devices: Different Approaches to the Solution of the Boltzmann Transport EquationArtikel Article 2015
4Baer, Eberhard ; Evanschitzky, P. ; Lorenz, J. ; Roger, Frederic ; Minixhofer, R. ; Filipovic, Lado ; Orio, Roberto ; Selberherr, Siegfried Coupled Simulation to Determine Across Wafer Variations for Electrical and Reliability Parameters of Through-Silicon VIAsKonferenzbeitrag Inproceedings 2014
5Filipovic, L. ; de Orio, R.L. ; Selberherr, S. ; Singulani, A. ; Roger, F. ; Minixhofer, R. Effects of sidewall scallops on open tungsten TSVsKonferenzbeitrag Inproceedings 2014
6Wimmer, Y. ; Tyaginov, S. ; Rudolf, F. ; Rupp, K. ; Bina, M. ; Enichlmair, H. ; Park, J.M. ; Minixhofer, R. ; Ceric, H. ; Grasser, T. Physical modeling of hot-carrier degradation in nLDMOS transistorsKonferenzbeitrag Inproceedings2014
7Filipovic, L. ; Rudolf, F. ; Baer, E. ; Evanschitzky, P. ; Lorenz, J. ; Roger, F. ; Singulani, A. ; Minixhofer, R. ; Selberherr, S. Three-dimensional simulation for the reliability and electrical performance of through-silicon viasKonferenzbeitrag Inproceedings2014
8Starkov, Ivan ; Tyaginov, S. E. ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Analysis of Worst-Case Hot-Carrier Conditions for High Voltage Transistors Based on Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
9Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Hot-Carrier Degradation Modeling Using Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
10Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2010
11Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, J.M. ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingArtikel Article2010
12Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Triebl, Oliver ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Negative Bias Temperature Instability Modeling for High-Voltage Oxides at Different Stress TemperaturesArtikel Article2007
13Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Influence of Interface and Oxide Traps on Negative Bias Temperature InstabilityKonferenzbeitrag Inproceedings 2006
14Schwaha, Philipp ; Heinzl, Rene ; Brezna, Wolfgang ; Smoliner, Jürgen ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. ; Grasser, Tibor Leakage Current Analysis of a Real World Silicon-Silicon Dioxide CapacitanceKonferenzbeitrag Inproceedings2006
15Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Investigation of NBTI Recovery During MeasurementKonferenzbeitrag Inproceedings2006
16Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Negative Bias Temperature Instability Modeling for High-Voltage Oxides at Different Stress TemperaturesKonferenzbeitrag Inproceedings 2006
17Schwaha, Philipp ; Heinzl, Rene ; Brezna, Wolfgang ; Smoliner, Jürgen ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. ; Grasser, Tibor Fully Three-Dimensional Analysis of Leakage Current in Non-Planar OxidesKonferenzbeitrag Inproceedings2005