Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/144516
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Titel: 
Convergent-beam EMCD: benefits, pitfalls and applications
en
Zitat: 
Löffler, S., & Hetaba, W. (2018). Convergent-beam EMCD: benefits, pitfalls and applications. Microscopy, 67(1), 60–71. https://doi.org/10.1093/jmicro/dfx129
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Verlags-DOI: 
10.1093/jmicro/dfx129
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Publikationstyp: 
Artikel - Forschungsartikel
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Löffler, Stefan 
Hetaba, Walid 
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Organisations­einheit: 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
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Zeitschrift: 
Microscopy 
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ISSN: 
2050-5698
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Datum (veröffentlicht): 
Mär-2018
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Umfang: 
12
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Verlag: 
OXFORD UNIV PRESS
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Peer Reviewed: 
Ja
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Keywords: 
Instrumentation; Radiology, Nuclear Medicine and imaging; Structural Biology
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Quantum Modelling and Simulation: 50%
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Wissenschafts­zweig: 
Physik, Astronomie
Chemie
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