Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/158745
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Titel: 
Reliability of interconnect structures for modern integrated circuits
en
Zitat: 
Ceric, H. (2014). Reliability of interconnect structures for modern integrated circuits [Professorial Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/158745
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CatalogPlus: 
AC12237117
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Publikationstyp: 
Hochschulschrift - Habilitationsschrift
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Ceric, Hajdin 
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Datum (veröffentlicht): 
2014
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Umfang: 
43
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Keywords: 
Integrierte Schaltung; Durchkontaktieren; Zuverlässigkeit; Aufsatzsammlung
de
Weitere Information: 
Enth. Originalbeitr. u. 12 Veröffentl.
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Enthalten in den Sammlungen:
Thesis

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