Title: Silicon Sensor Process Quality Control for the CMS Phase-2 Upgrade
Other Titles: Prozessqualitätskontrolle für Siliziumsensoren für das CMS Phase-2-Upgrade
Language: English
Authors: Hinger, Viktoria 
Qualification level: Doctoral
Advisor: Schwanda, Christoph 
Assisting Advisor: Bergauer, Thomas 
Issue Date: 2021
Number of Pages: 152
Qualification level: Doctoral
Abstract: 
Der Start des High Luminosity Large Hadron Colliders (HL-LHC) der Europäischen Organisation für Kernforschung (CERN) im Jahr 2027 wird eine neue Era für die Hochenergie- Teilchenphysik einläuten. Zur Vorbereitung auf die Herausforderungen, die mit der wesentlich erhöhten Luminosität einhergehen, werden die Physikexperimente am LHC zwischen 2025 und 2027 einem großangelegten Upgrade unterzogen.Für das CMS (Compact Muon Solenoid) Experiment bedeutet das Upgrade unter anderem den vollständigen Tausch des Siliziumspurdetektors und der Kalorimeter-Endkappen. Zwischen 2020 und 2023 gehen deshalb mehr als 50 000 großflächige, positionssensitive Siliziumsensoren in Produktion und werden anschließend in den äußeren Spurdetektor und das neue High Granularity Calorimeter (HGCAL) eingebaut.Die Sensoren unterliegen während des gesamten Produktionszeitraums einer genauen Qualitäts- und Stabilitätskontrolle. Die vorliegende Dissertation befasst sich mit der von CMS verfolgten Strategie der Prozessqualitätskontrolle. Die Überwachung kritischer Prozessparameter erfolgt mithilfe von Teststrukturen, die auf denselben Wafern gefertigt werden, wie die zu testenden Sensoren. Dadurch wird gewährleistet, dass Teststrukturen und Sensoren dieselben Eigenschaften aufweisen. Die Teststrukturen erlauben einen einfachen Zugang zu Prozessparametern, darunter auch solche Parameter, die auf den Sensoren nicht direkt bestimmbar sind (z.B. die Konzentration fixer Ladungsträger im Oxid oder die Rekombinationsgeschwindigkeit von Ladungsträgern an der Halbleiteroberfläche) sowie Parameter, die destruktive Messmethoden erfordern (z.B. die Durchbruchspannung des Oxids).Den Kern dieser Arbeit bildet das Design eines Sets von Teststrukturen zur automatisierten Kontrolle aller relevanten Prozessparameter für die Serienproduktion von CMS Siliziumsensoren. Das Set ermöglicht die Erhebung der wichtigsten Prozessparameter in rund 30 Minuten pro Wafer und erlaubt eine tiefergehende Analyse im Fall von Problemen. Das Set ist auf automatisierte Messungen mit einer Nadelkarte zugeschnitten.Für die Entwicklung des Sets wurden unterschiedlichste Teststrukturen, produziert von zwei verschiedenen Halbleiterherstellern, elektrisch vermessen und Simulationen durch- geführt. Dabei wurde ein besonderer Fokus darauf gelegt, im finalisierten Set mehrere verschiedene Teststrukturen anzubieten, um einzelne Prozessparameter zu extrahieren und so einander gegenseitig ergänzende Messansätze bereitzustellen.Die ersten realen Instanzen des Sets auf Produktionswafern für den äußeren CMS Spurdetektor und Wafern mit HGCAL Prototypsensoren wurden einer systematischen Analyse unterzogen. Damit konnte die Funktionalität des Sets und aller enthaltenen Teststrukturen gezeigt werden. Diese Ergebnisse erlauben es, die Unterschiede der Produktionsprozesse für den äußeren CMS Spurdetektor und HGCAL zu quantifizieren. Zusätzlich geben die Messungen Aufschluss über Defizite des aktuellen Designs des Sets und bereiten die Grundlage für entsprechende Verbesserungsmaßnahmen.Das Teststrukturset und die hier präsentierten Ergebnisse emöglichen die Standardisierung der CMS Prozessqualitätskontrolle. Die Vergleichbarkeit der Messungen zwischen den verschieden CMS Testzentren kann so über die gesamte Laufzeit der Produktion gesichert werden. Zusammen mit direkten Sensormessungen und Tests nach Bestrahlung, sichert die hier dargelegte Methode zur Prozessqualitätskontrolle die Qualität der Siliziumsensoren, die in den CMS Spurdetektor und HGCAL eingebaut werden und leistet letztendlich einen nicht unwesentlichen Beitrag für die künftige Suche nach neuer Physik am HL-LHC.

The start of the High Luminosity Large Hadron Collider (HL-LHC) at the European Organization for Nuclear Research (CERN) scheduled for 2027 will herald a new era for high energy particle physics. The physics experiments located at the LHC will undergo a major upgrade between 2025 and 2027 to ready for the challenging conditions of the new high luminosity environment.As part of this upgrade, the CMS (Compact Muon Solenoid) experiment will see the complete replacement of the full silicon tracker and the calorimeter endcaps. Over 50 000 large-area, position-sensitive silicon sensors will be produced between 2020 and 2023 to be integrated into the CMS Outer Tracker and the new High Granularity Calorimeter (HGCAL).This thesis presents the CMS strategy to monitor the quality and stability of the sensor manufacturing process throughout production time. The process quality control procedure relies on tracking critical process parameters on test structures. The structures are manufactured on the same wafers as the sensors and, hence, share the same properties. They provide easy access to many process parameters, including parameters that are not directly accessible on sensors (e.g. oxide charge concentration and surface generation velocity) and parameters that require destructive measurements (e.g. dielectric breakdown voltage).The main part of this thesis establishes a set of test structures designed to allow automated assessment of a comprehensive set of process parameters. This test structure set constitutes the basis of CMS silicon sensor process quality control. It facilitates quick assessment of critical process parameters in about 30 minutes per wafer and provides the means for in-depth analysis in case of any irregularities detected. Measurements of the set utilize a 20-needle probe card and an automated positioning stage.The development process of the test structure set combined electrical measurements on individual test structures manufactured on prototype wafers by two different foundries and simulations of test structure response to the variation of different process parameters. Specific emphasis was put on investigating the capability of different test structures to access the same process parameters, aiming at providing complementary measurement methods within the finalized set.Measurements of the first instances of the set produced on CMS Outer Tracker production wafers and HGCAL prototype wafers have demonstrated the functionality of the set and the included test structures. The results serve to quantify process related differences of the wafer material for the CMS Outer Tracker and HGCAL. Based on these measurements, the shortcomings of the current design of the test structure set are identified and mitigation measures are proposed.The test structure set and the results presented in this thesis have served to standardize the process quality control procedure and to ensure cross-comparability between different test centers within the CMS silicon sensor working groups and over the full series production time. Together with direct electrical measurements of the manufactured sensors and irradiation tests, the presented process quality control procedure will ensure the quality of the silicon sensors integrated into the CMS Outer Tracker and HGCAL and, ultimately, will aid the search for new physics at the HL-LHC.
Keywords: Siliziumdetektoren; LHC; CMS
Silicon detectors; LHC; CMS
URI: https://doi.org/10.34726/hss.2021.47360
http://hdl.handle.net/20.500.12708/17013
DOI: 10.34726/hss.2021.47360
Library ID: AC16161485
Organisation: E141 - Atominstitut 
Publication Type: Thesis
Hochschulschrift
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