Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/178539
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Titel: 
Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse von leichten Elementen auf Silizium-Waferoberflächen unter Verwendung von Spezialröntgenröhren
de
Zitat: 
Proksch, K. (2001). Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse von leichten Elementen auf Silizium-Waferoberflächen unter Verwendung von Spezialröntgenröhren [Diploma Thesis, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/178539
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CatalogPlus: 
AC03248948
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Publikationstyp: 
Hochschulschrift - Diplomarbeit
de
Sprache: 
Deutsch
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Autor_innen: 
Proksch, Kerstin 
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Datum (veröffentlicht): 
2001
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Umfang: 
114
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Enthalten in den Sammlungen:
Thesis

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