Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/191457
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Titel: 
Investigations of Optical Excitations in Semiconductors using Scanning Transmission Electron Microscopy
en
Zitat: 
Stöger-Pollach, M., Bukvisová, K., Zenz, K., Stöger, L., & Scales, Z. (2023, April 3). Investigations of Optical Excitations in Semiconductors using Scanning Transmission Electron Microscopy [Conference Presentation]. Microscopy of Semiconducting Materials 2023, Cambridge, United Kingdom of Great Britain and Northern Ireland (the). http://hdl.handle.net/20.500.12708/191457
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Publikationstyp: 
Vortrag - Konferenz Präsentation
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Stöger-Pollach, Michael 
Bukvisová, Kristýna 
Zenz, Keanu 
Stöger, Leo 
Scales, Ze 
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Organisations­einheit: 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
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Datum (veröffentlicht): 
3-Apr-2023
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Veranstaltungs­name: 
Microscopy of Semiconducting Materials 2023 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
3-Apr-2023 - 6-Apr-2023
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Veranstaltungs­ort: 
Cambridge, Vereinigtes Königreich
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Keywords: 
Semiconductors
en
Forschungs­infrastruktur: 
Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie 
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Composite Materials: 50%
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Wissenschafts­zweig: 
1040 - Chemie: 30%
2100 - Nanotechnologie: 40%
1030 - Physik, Astronomie: 30%
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Enthalten in den Sammlungen:
Presentation

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