Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/200405
-
Titel: 
Highly-charged-ion-induced electron emission from surfaces
en
Zitat: 
Niggas, A., Werl, M., Vojtech, V., Vukovic, F., Aumayr, F., & Wilhelm, R. A. (2024). Highly-charged-ion-induced electron emission from surfaces. In Book of Abstracts: The 15th International Symposium Electron Beam Ion Sources and Traps (EBIST 2024) (pp. 13–13).
-
Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
-
Autor_innen: 
Niggas, Anna 
Werl, Matthias 
Vojtech, Victoria 
Vukovic, Filip 
Aumayr, Friedrich 
Wilhelm, Richard Arthur 
-
Organisations­einheit: 
E134-03 - Forschungsbereich Atomic and Plasma Physics 
-
Erschienen in: 
Book of Abstracts: The 15th International Symposium Electron Beam Ion Sources and Traps (EBIST 2024) 
-
Datum (veröffentlicht): 
27-Aug-2024
-
Veranstaltungs­name: 
15th International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps (EBIST 2024) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
27-Aug-2024 - 30-Aug-2024
-
Veranstaltungs­ort: 
Kielce, Polen
-
Umfang: 
1
-
Keywords: 
2D materials; graphene; highly charged ions; charge exchange; electron emission
en
Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 20%
Surfaces and Interfaces: 80%
-
Wissenschafts­zweig: 
1030 - Physik, Astronomie: 100%
-
Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

Zur Langanzeige

Seiten Aufrufe

68
aufgerufen am 11.09.2024

Download(s)

1
aufgerufen am 11.09.2024

Google ScholarTM

Check