Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/214188
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Titel: 
Infinite Dimensional Bayesian Inversion for Semiconductor Devices
en
Zitat: 
Taghizadeh, L., & Jüngel, A. (2025). Infinite Dimensional Bayesian Inversion for Semiconductor Devices. In 95th Annual Meeting of the Association of Applied Mathematics and Mechanics : Book of Abstracts (pp. 292–292).
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Taghizadeh, Leila 
Jüngel, Ansgar 
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Organisations­einheit: 
E101-03-2 - Forschungsgruppe Unsicherheitsquantifizierung 
E101-01-2 - Forschungsgruppe Analysis nichtlinearer PDEs 
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Erschienen in: 
95th Annual Meeting of the Association of Applied Mathematics and Mechanics : Book of Abstracts 
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ISBN: 
978-83-7775-791-8
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Datum (veröffentlicht): 
Apr-2025
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Veranstaltungs­name: 
95th Annual Meeting of the Association of Applied Mathematics and Mechanics (2025) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
7-Apr-2025 - 11-Apr-2025
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Veranstaltungs­ort: 
Poznan, Polen
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Umfang: 
1
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Keywords: 
Uncertainty quantification; Infinite-dimensional Bayesian inverse problem; Markov chain Monte Carlo methods; physics-informed prior; semiconductor devices
en
Forschungs­schwerpunkte: 
Mathematical and Algorithmic Foundations: 100%
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Wissenschafts­zweig: 
1010 - Mathematik: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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