Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/222644
https://doi.org/10.34726/11632
-
Titel: 
Towards Quantum Computer-Enhanced Measurements in Electron Microscopy
en
Zitat: 
Hornof, D., Zanetti, M., Jungwirth, N., Seifner, M. S., Schindler, P., Juffmann, T., & Haslinger, P. (2025). Towards Quantum Computer-Enhanced Measurements in Electron Microscopy. In Electron Beam Spectroscopy for Nanophotonics 2025 : Book of Abstracts (pp. 56–56). https://doi.org/10.34726/11632
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reposiTUm-DOI: 
10.34726/11632
-
CatalogPlus: 
AC17737595
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Hornof, Dominik 
Zanetti, M. 
Jungwirth, N. 
Seifner, Michael Stanislaus 
Schindler, P. 
Juffmann, Thomas 
Haslinger, Philipp 
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Organisations­einheit: 
E141-02 - Forschungsbereich Atom Physics and Quantum Optics 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
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Erschienen in: 
Electron Beam Spectroscopy for Nanophotonics 2025 : Book of Abstracts 
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Datum (veröffentlicht): 
30-Okt-2025
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Veranstaltungs­name: 
Electron Beam Spectroscopy for Nanophotonics 2025 (EBSN 2025) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
29-Okt-2025 - 31-Okt-2025
-
Veranstaltungs­ort: 
Castelldefels, Spanien
-
Umfang: 
1
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Keywords: 
Electron Microscopy; quantum computer
en
Forschungs­infrastruktur: 
Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie 
-
Forschungs­schwerpunkte: 
Quantum Metrology and Precision Measurements: 100%
-
Wissenschafts­zweig: 
1030 - Physik, Astronomie: 100%
-
Lizenz: 
CC BY-NC-ND 4.0 CC BY-NC-ND 4.0
de
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Conference Paper

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