2D Materials

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Title Titel
2D Materials
 
e-ISSN
2053-1583
 
ISSN
2053-1583
 
Publisher Herausgeber
IOP PUBLISHING LTD
 
Publisher's Address Herausgeber Adresse
TEMPLE CIRCUS, TEMPLE WAY, BRISTOL, ENGLAND, BS1 6BE
 
Listed in SCI Aufgelistet im SCI
 
Peer reviewed Begutachtet
 
 

Publications Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Illarionov, Yury Yu ; Knobloch, Theresia ; Waltl, Michael ; Rzepa, Gerhard ; Pospischil, Andreas ; Polyushkin, Dmitry ; Furchi, Marco Mercurio ; Mueller, Thomas ; Grasser, Tibor Energetic mapping of oxide traps in MoS₂ field-effect transistorsArtikel Article Jun-2017
2Kirchhof-2023-2D Materials-vor.pdf.jpgKirchhof, Jan N ; Yu, Yuefeng ; Yagodkin, Denis ; Stetzuhn, Nele ; de Araújo, Daniel B ; Kanellopulos, Kostas ; Manas-Valero, Samuel ; Coronado, Eugenio ; van der Zant, Herre ; Reich, Stephanie ; Schmid, Silvan ; Bolotin, Kirill I Nanomechanical absorption spectroscopy of 2D materials with femtowatt sensitivityArticle Artikel Jul-2023
3Illarionov, Yury Yu ; Banshchikov, Alexander G ; Polyushkin, Dmitry K ; Wachter, Stefan ; Knobloch, Theresia ; Thesberg, Mischa ; Vexler, Mikhail I ; Waltl, Michael ; Lanza, Mario ; Sokolov, Nikolai S ; Mueller, Thomas ; Grasser, Tibor Reliability of Scalable MoS2 FETs With 2 nm Crystalline CaF2 InsulatorsArtikel Article 2019
4Paur, Matthias ; Molina- Mendoza, Aday J. ; Polyushkin, Dmitry K. ; de Vasconcellos, Steffen Michaelis ; Bratschitsch, Rudolf ; Müller, Thomas Resonant photocurrent from a single quantum emitter in tungsten diselenideArtikel Article 2020
5Illarionov, Yury Yu ; Rzepa, Gerhard ; Waltl, Michael ; Knobloch, Theresia ; Grill, Alexander ; Furchi, Marco Mercurio ; Mueller, Thomas ; Grasser, Tibor The role of charge trapping in Mo₂/SiO₂ and MoS₂/hBN field-effect transistorsArtikel Article Sep-2016
6Dziom, V ; Shuvaev, A ; Mikhailov, N N ; Pimenov, A Terahertz properties of Dirac fermions in HgTe films with optical dopingArtikel Article 2017
7Wilhelm, R.A. ; Gruber, Elisabeth ; Ritter, Robert ; Heller, R. ; Beyer, A. ; Turchanin, Andrey ; Klingner, Nico ; Hübner, René ; Stöger-Pollach, Michael ; Vieker, H. ; Hlawacek, Gregor ; Gölzhäuser, A. ; Facsko, S. ; Aumayr, Friedrich Threshold and efficiency for perforation of 1 nm thick carbon nanomembranes with slow highly charged ionsArtikel Article 2015