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TYAGINOV, Stanislav
 
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1Jech, Markus ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Tyaginov, Stanislav ; Waldhör, Dominic ; Bouakline, Foudhil ; Saalfrank, Peter ; Jabs, Dominic ; Jungemann, Christoph ; Waltl, Michael ; Grasser, Tibor Quantum Chemistry Treatment of Silicon-Hydrogen Bond Rupture by Nonequilibrium Carriers in Semiconductor DevicesArtikel Article 2021
2Jech, Markus ; Rott, Gunnar ; Reisinger, Hans ; Tyaginov, Stanislav ; Rzepa, Gerhard ; Grill, Alexander ; Jabs, Dominic ; Jungemann, Christoph ; Waltl, Michael ; Grasser, Tibor Mixed Hot-Carrier/Bias Temperature Instability Degradation Regimes in Full {VG, VD} Bias Space: Implications and PeculiaritiesArtikel Article Aug-2020
3Makarov, Alexander ; Roussel, Philippe ; Bury, Erik ; Vandemaele, Michiel ; Spessot, Alessio ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Parameter Variabilities: Modeling ApproachArtikel Article 2020
4Vasilev, Alexander ; Jech, Markus ; Grill, Alexander ; Rzepa, Gerhard ; Schleich, Christian ; Makarov, Alexander ; Pobegen, Gregor ; Grasser, Tibor ; Waltl, Michael ; Tyaginov, Stanislav Modeling the Hysteresis of Current-Voltage Characteristics in 4H-SiC TransistorsKonferenzbeitrag Inproceedings 2020
5Tyaginov, Stanislav ; Grill, Alexander ; Vandemaele, Michiel ; Grasser, Tibor ; Hellings, Geert ; Makarov, Alexander ; Jech, Markus ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben A Compact Physics Analytical Model for Hot-Carrier DegradationKonferenzbeitrag Inproceedings 2020
6Grill, A. ; Bury, E. ; Michl, J. ; Tyaginov, S. ; Linten, D. ; Grasser, T. ; Parvais, B. ; Kaczer, B. ; Waltl, M. ; Radu, I. Reliability and Variability of Advanced CMOS Devices at Cryogenic TemperaturesKonferenzbeitrag Inproceedings2020
7Jech, Markus ; El-Sayed, Al-Moatasem Bellah ; Tyaginov, Stanislav ; Shluger, Alexander L. ; Grasser, Tibor Ab Initio treatment of silicon-hydrogen bond rupture at Si/SiO₂ interfacesArtikel Article 15-Nov-2019
8Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe ; Chasin, A ; Vandemaele, Michiel ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Jech, Markus ; Grasser, Tibor ; Linten, D ; Tyaginov, S. E. Simulation Study: the Effect of Random Dopants and Random Traps on Hot-Carrier Degradation in nFinFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
9Tyaginov, S. E. ; Chasin, A ; Makarov, Alexander ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Jech, Markus ; De Keersgieter, An ; Eneman, G. ; Vandemaele, Michiel ; Franco, J. ; Linten, D ; Kaczer, Ben Physics-based Modeling of Hot-Carrier Degradation in Ge NWFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
10Makarov, A. ; Kaczer, B. ; Roussel, Ph. ; Chasin, A. ; Grill, A. ; Vandemaele, M. ; Hellings, G. ; El-Sayed, A.-M. ; Grasser, T. ; Linten, D. ; Tyaginov, S. Modeling the Effect of Random Dopants on Hot-Carrier Degradation in FinFETsKonferenzbeitrag Inproceedings2019
11Makarov, Alexander ; Roussel, Philippe ; Bury, Erik ; Vandemaele, Michiel ; Spessot, Alessio ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav On Correlation between Hot-Carrier Stress Induced Device Parameter Degradation and Time-Zero VariabilityKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
12Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe ; Chasin, A ; Vandemaele, Michiel ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Jech, Markus ; Grasser, Tibor ; Linten, D ; Tyaginov, S. E. Stochastic Modeling of Hot-Carrier Degradation in nFinFETs Considering the Impact of Random Traps and Random DopantsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
13Jech, Markus ; Ullmann, Bianka ; Rzepa, Gerhard ; Tyaginov, Stanislav ; Grill, Alexander ; Waltl, Michael ; Jabs, Dominic ; Jungemann, Christoph ; Grasser, Tibor Impact of Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot Carrier Stress on MOSFET Characteristics-Part II: TheoryArtikel Article 2019
14Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Chasin, Adrian ; Vandemaele, Michiel ; Bury, Erik ; Jech, Markus ; Grill, Alexander ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Grasser, Tibor ; Linten, Dimitri ; Tyaginov, Stanislav Bi-Modal Variability of nFinFET Characteristics During Hot-Carrier Stress: A Modeling ApproachArtikel Article 2019
15Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe ; Chasin, Adrian ; Grill, Alexander ; Vandemaele, Michiel ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Grasser, Tibor ; Linten, Dimitri ; Tyaginov, Stanislav Stochastic Modeling of the Impact of Random Dopants on Hot-Carrier Degradation in n-FinFETsArtikel Article 2019
16Jech, M. ; Tyaginov, S. ; Kaczer, B. ; Franco, J. ; Jabs, D. ; Jungemann, C. ; Waltl, M. ; Grasser, T. First–Principles Parameter–Free Modeling of n– and p–FET Hot–Carrier DegradationKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
17Schleich, C. ; Berens, J. ; Rzepa, G. ; Pobegen, G. ; Rescher, G. ; Tyaginov, S. ; Grasser, T. ; Waltl, M. Physical Modeling of Bias Temperature Instabilities in SiC MOSFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
18Vandemaele, Michiel ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav ; Stanojevic, Zlatan ; Makarov, Alexander ; Chasin, Adrian ; Bury, Erik ; Mertens, Hans ; Linten, Dimitri ; Groeseneken, Guido Full ($V_{\mathrm{g}},\ V_{\mathrm{d}}$) Bias Space Modeling of Hot-Carrier Degradation in Nanowire FETsKonferenzbeitrag Inproceedings2019
19Scharlotta, Jean-Yean ; Bersuker, Gennadi ; Tyaginov, S. E. ; Young, Chadwing ; Haase, Gaddi ; Rzepa, Gerhard ; Waltl, Michael ; Chohan, Talha ; Iyer, Subramanian ; Kotov, Alexander ; Zambelli, Cristian ; Guarin, Fernando ; Puglisi, Francesco Maria ; Ostermaier, C IIRW 2019 Discussion Group II: Reliability for Aerospace ApplicationsKonferenzbeitrag Inproceedings2019
20Tyaginov, Stanislav ; El-Sayed, Al-Moatasem Bellah ; Makarov, Alexander ; Chasin, A ; Arimura, H ; Vandemaele, Michiel ; Jech, Markus ; Capogreco, Elena ; Witters, L. ; Grill, Alexander ; De Keersgieter, An ; Eneman, G. ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben Understanding and Physical Modeling Superior Hot-Carrier Reliability of Ge pNWFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019