Name Card

Full name Familienname, Vorname
Pianetta, P.
 

Own Publications Eigene Publikationen


Results 1-18 of 18 (Search time: 0.003 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Meirer, F. ; Ingerle, D. ; Pepponi, Giancarlo ; Streli, Christina ; Mehta, A. ; Pianetta, P. GIXRF and GIXAS at Trace LevelsPräsentation Presentation2013
2Pepponi, Giancarlo ; Meirer, F. ; Brigidi, Fabio ; Demenev, E. ; Giubertoni, D. ; Gennaro, S. ; Bersani, M. ; Ingerle, D. ; Streli, Christina ; Steinhauser, Georg ; Mehta, A. ; Pianetta, P. ; Vishwanath, V. ; Foad, M.A. GIXRF and GEXRF analysis of PIII ultra shallow arsenic profiles in SiliconPräsentation Presentation2013
3Meirer, F. ; Demenev, E. ; Giubertoni, D. ; Gennaro, S. ; Vanzetti, L. ; Pepponi, G. ; Bersani, M. ; Sahiner, M. A. ; Steinhauser, G. ; Foad, M. A. ; Woicik, J. C. ; Mehta, A. ; Pianetta, P. Formation Of Arsenic Rich Silicon Oxide Under Plasma Immersion Ion Implantation And Laser AnnealingArtikel Article2012
4Meirer, F. ; Pepponi, Giancarlo ; Ingerle, D. ; Sahiner, M.A. ; Giubertoni, D. ; Demenev, E. ; Foad, M.A. ; Woicik, J.C. ; Mehta, A. ; Streli, Christina ; Pianetta, P. Characterization of ultra shallow arsenic implants in silicon using grazing incidence and grazing exit x-ray spectroscopyPräsentation Presentation2011
5Meirer, F. ; Singh, A. ; Pepponi, Giancarlo ; Streli, Christina ; Homma, T. ; Pianetta, P. Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysisArtikel Article Jun-2010
6Pepponi, Giancarlo ; Meirer, F. ; Sahiner, M.A. ; Giubertoni, D. ; Gennaro, S. ; Demenev, E. ; Woicik, J.C. ; Bersani, M. ; Foad, M.A. ; Streli, Christina ; Pianetta, P. GI-EXAFS of Arsenic ultra shallow junctions in Silicon formed by beamline and plasma immersion ion implantation and laser annealingPräsentation Presentation2010
7Pepponi, Giancarlo ; Meirer, F. ; Sahiner, M.A. ; Giubertoni, D. ; Gennaro, S. ; Demenev, E. ; Bersani, M. ; Foad, M.A. ; Streli, Christina ; Pianetta, P. Grazing Incidence X-Ray Absorption Applied To The Characterisation Of As Shallow Implants In SiPräsentation Presentation2010
8Giubertoni, D. ; Pepponi, Giancarlo ; Sahiner, M.A. ; Kelty, S.P. ; Gennaro, S. ; Bersani, M. ; Kah, M. ; Kirkby, K.J. ; Doherty, R. ; Foad, M.A. ; Meirer, F. ; Streli, Christina ; Woicik, J.C. ; Pianetta, P. Deactivation of submelt laser annealed arsenic ultrashallow junctions in silicon during subsequent thermal treatmentArtikel Article 2010
9Giubertoni, D. ; Pepponi, Giancarlo ; Sahiner, M.A. ; Kelty, S.P. ; Kah, M. ; Kirkby, K.J. ; Meirer, F. ; Gennaro, S. ; Doherty, R. ; Foad, M.A. ; Woicik, J.C. ; Streli, Christina ; Bersani, M. ; Pianetta, P. Deactivation of sub-melt laser annealed arsenic ultra shallow junctions in silicon during subsequent thermal treatmentPräsentation Presentation2009
10Meirer, F. ; Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Pepponi, Giancarlo ; Giubertoni, D. ; Pianetta, P. Txrf-Xanes And Gi-Xas: X-Ray Absorption Spectroscopy In Trace AnalysisPräsentation Presentation2009
11Bersani, M. ; Pepponi, Giancarlo ; Giubertoni, D. ; Gennaro, S. ; Sahiner, M.A. ; Kelty, S.P. ; Kah, M. ; Kirkby, K.J. ; Doherty, R. ; Foad, M.A. ; Meirer, F. ; Streli, Christina ; Woicik, J.C. ; Pianetta, P. Characterization of Junction Activation and Deactivation Using non-Equilibrium Annealing: Solid Phase Epitaxy, Spike Annealing, Laser AnnealingPräsentation Presentation2009
12Meirer, F. ; Pepponi, Giancarlo ; Streli, Christina ; Giubertoni, D. ; Wobrauschek, Peter ; Pianetta, P. Recent research about GI-XASPräsentation Presentation2009
13Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Fabry, L. ; Pahlke, S. ; Comin, F. ; Barrett, R. ; Pianetta, P. ; Lüning, K. ; Beckhoff, B. Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Wafer AnalysisBuchbeitrag Book Contribution2006
14Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter ; Zöger, N. ; Pianetta, P. ; Baur, K. ; Pahlke, S. ; Fabry, L. ; Mantler, C. ; Kanngießer, B. Synchrotron Radiation induced TXRF of low Z Elements on Si Wafer Surfaces at SSRL.Beamline 3-3Präsentation Presentation2002
15Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter ; Pianetta, P. ; Baur, K. ; Pahlke, S. ; Fabry, L. ; Mantler, C. ; Kanngießer, B. ; Malzer, W. Analysis of low Z Elements on Si Wafer Surfaces with Synchrotron Radiation induced TXRF at SSRL.Beamline 3-3: Comparison of Droplets with Spin coated WafersPräsentation Presentation2002
16Pepponi, Giancarlo ; Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Zöger, N. ; Pianetta, P. ; Baur, K. ; Kanngießer, B. ; Malzer, W. ; Palmetshofer, L. Measurements of light Element Implants in Si Wafers with SR-TXRFPräsentation Presentation2002
17Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter ; Pianetta, P. ; Baur, K. ; Pahlke, S. ; Fabry, L. ; Mantler, C. ; Kanngießer, B. ; Malzer, W. Synchrotron Radiation induced TXRF of low Z Elements on Si Wafer Surfaces at SSRL.Beamline 3-3: Surface Contaminations and Depth ProfilesPräsentation Presentation2002
18Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo ; Wobrauschek, Peter ; Pianetta, P. ; Baur, K. ; Fabry, L. ; Mantler, C. ; Kanngießer, B. ; Malzer, W. Synchrotron radiation induced TXRF of low Z elements on Si wafer surfaces at SSRL beamline 3-3Präsentation Presentation2002

Contributing Publications Mitbeteiligte Publikationen


Results 1-1 of 1 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewEditor(s)TitleTypeIssue Date
1Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Fabry, L. ; Pahlke, S. ; Comin, F. ; Barrett, R. ; Pianetta, P. ; Lüning, K. ; Beckhoff, B. Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Wafer AnalysisBuch Book2006