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Linten, Dimitri
 

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1Michl, Jakob ; Grill, Alexander ; Waldhoer, Dominic ; Goes, Wolfgang ; Kaczer, Ben ; Linten, Dimitri ; Parvais, Bertrand ; Govoreanu, Bogdan ; Radu, Iuliana ; Grasser, Tibor ; Waltl, Michael Efficient Modeling of Charge Trapping at Cryogenic Temperatures-Part II: ExperimentalArtikel Article 2021
2Michl, Jakob ; Grill, Alexander ; Waldhoer, Dominic ; Goes, Wolfgang ; Kaczer, Ben ; Linten, Dimitri ; Parvais, Bertrand ; Govoreanu, Bogdan ; Radu, Iuliana ; Waltl, Michael ; Grasser, Tibor Efficient Modeling of Charge Trapping at Cryogenic Temperatures-Part I: TheoryArtikel Article 2021
3Makarov, Alexander ; Roussel, Philippe ; Bury, Erik ; Vandemaele, Michiel ; Spessot, Alessio ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Parameter Variabilities: Modeling ApproachArtikel Article 2020
4Tyaginov, Stanislav ; Grill, Alexander ; Vandemaele, Michiel ; Grasser, Tibor ; Hellings, Geert ; Makarov, Alexander ; Jech, Markus ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben A Compact Physics Analytical Model for Hot-Carrier DegradationKonferenzbeitrag Inproceedings 2020
5Wu, Zhicheng ; Franco, Jacopo ; Claes, Dieter ; Rzepa, Gerhard ; Roussel, Philippe J. ; Collaert, Nadine ; Groeseneken, Guido ; Linten, Dimitri ; Grasser, Tibor ; Kaczer, Ben Accelerated Capture and Emission (ACE) Measurement Pattern for Efficient BTI Characterization and ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2019
6Makarov, Alexander ; Roussel, Philippe ; Bury, Erik ; Vandemaele, Michiel ; Spessot, Alessio ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav On Correlation between Hot-Carrier Stress Induced Device Parameter Degradation and Time-Zero VariabilityKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
7Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Chasin, Adrian ; Vandemaele, Michiel ; Bury, Erik ; Jech, Markus ; Grill, Alexander ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Grasser, Tibor ; Linten, Dimitri ; Tyaginov, Stanislav Bi-Modal Variability of nFinFET Characteristics During Hot-Carrier Stress: A Modeling ApproachArtikel Article 2019
8Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe ; Chasin, Adrian ; Grill, Alexander ; Vandemaele, Michiel ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Grasser, Tibor ; Linten, Dimitri ; Tyaginov, Stanislav Stochastic Modeling of the Impact of Random Dopants on Hot-Carrier Degradation in n-FinFETsArtikel Article 2019
9Vandemaele, Michiel ; Kaczer, Ben ; Tyaginov, Stanislav ; Stanojevic, Zlatan ; Makarov, Alexander ; Chasin, Adrian ; Bury, Erik ; Mertens, Hans ; Linten, Dimitri ; Groeseneken, Guido Full ($V_{\mathrm{g}},\ V_{\mathrm{d}}$) Bias Space Modeling of Hot-Carrier Degradation in Nanowire FETsKonferenzbeitrag Inproceedings2019
10Tyaginov, Stanislav ; El-Sayed, Al-Moatasem Bellah ; Makarov, Alexander ; Chasin, A ; Arimura, H ; Vandemaele, Michiel ; Jech, Markus ; Capogreco, Elena ; Witters, L. ; Grill, Alexander ; De Keersgieter, An ; Eneman, G. ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben Understanding and Physical Modeling Superior Hot-Carrier Reliability of Ge pNWFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
11Vandemaele, Michiel ; Kaczer, Ben ; Stanojevic, Zlatan ; Tyaginov, Stanislav ; Makarov, Alexander ; Chasin, Adrian ; Mertens, Hans ; Linten, Dimitri ; Groeseneken, Guido Distribution Function Based Simulations of Hot-Carrier Degradation in Nanowire FETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2018