Title: Process control for a large area high resolution hall scanner
Other Titles: Prozesssteuerung eines hochauflösenden Raster-Hallsondenmikroskops mit großem Rasterbereich
Language: English
Authors: Bader, David 
Qualification level: Diploma
Advisor: Eisterer, Michael 
Issue Date: 2017
Number of Pages: 67
Qualification level: Diploma
Abstract: 
Das Ziel dieser Arbeit war, die Software für einen neuen Nano-Hallscanner mit einem Interferometriesystem zur Positionsregelung zu schreiben. Diese Software ist dafür verantwortlich, die Position und Bewegung der Hallsonde des Scanners zu steuern und zu regeln, sowie mit allen anderen Geräten, die für das Scanner-System verwendet werden, zu kommunizieren und diese zu steuern. Ein weiterer Teil dieser Arbeit war der Aufbau dieser Geräte und deren Verkabelung mit dem Steuerungs-PC. Weiters wurde die Software dazu verwendet, um Interferenzmuster zu messen und darzustellen und damit den Aufbau des Interferometriesystems zu unterstützen.

The goal of this thesis was to build the software for a new nano Hall scanner with an interferometry system for positioning feedback. The software is responsible for controlling the position and movement of the Hall probe of this scanner, as well as communicating with and controlling all other devices used for the scanning system. Also part of this work was setting up and connecting these devices with the controlling PC. Additionally, the software was used to measure and plot interference patterns to help setting up the interferometry system correctly.
Keywords: Rastermikroskopie; Hallsonden; Supraleitung; Prozesssteuerung
scanning Hall probe microscopy; Superconductivity; Process Control
URI: https://resolver.obvsg.at/urn:nbn:at:at-ubtuw:1-101805
http://hdl.handle.net/20.500.12708/10393
Library ID: AC13783809
Organisation: E141 - Atominstitut 
Publication Type: Thesis
Hochschulschrift
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