Record link: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/179596
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Title: 
Versetzungsanalyse von GaN-Epitaxieschichten im Transmissionselektronenmikroskop
de
Citation: 
Huemer, J. (2006). Versetzungsanalyse von GaN-Epitaxieschichten im Transmissionselektronenmikroskop [Diploma Thesis, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/179596
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CatalogPlus: 
AC05628483
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Publication Type: 
Thesis - Diplomarbeit
en
Language: 
German
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Authors: 
Huemer, Johannes 
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Advisor: 
Pongratz, Peter 
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Organisational Unit: 
E138 - Institut für Festkörperphysik 
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Date (published): 
2006
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Number of Pages: 
158
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Appears in Collections:
Thesis

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