Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/179596
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Titel: 
Versetzungsanalyse von GaN-Epitaxieschichten im Transmissionselektronenmikroskop
de
Zitat: 
Huemer, J. (2006). Versetzungsanalyse von GaN-Epitaxieschichten im Transmissionselektronenmikroskop [Diploma Thesis, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/179596
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CatalogPlus: 
AC05628483
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Publikationstyp: 
Hochschulschrift - Diplomarbeit
de
Sprache: 
Deutsch
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Autor_innen: 
Huemer, Johannes 
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Betreuer_in: 
Pongratz, Peter 
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Organisations­einheit: 
E138 - Institut für Festkörperphysik 
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Datum (veröffentlicht): 
2006
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Umfang: 
158
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Enthalten in den Sammlungen:
Thesis

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aufgerufen am 01.12.2023

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