Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/189214
-
Titel: 
Bias Spectroscopy of Negative Differential Resistance in Ge Nanowire Field Effect Transistors
en
Zitat: 
Behrle, R., Lugstein, A., den Hertog, M., Weber, W. M., & Sistani, M. (2023). Bias Spectroscopy of Negative Differential Resistance in Ge Nanowire Field Effect Transistors. In Nanowire Week 2023 : Conference Information & Abstracts (pp. 43–43).
-
Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
-
Autor_innen: 
Behrle, Raphael 
Lugstein, Alois 
den Hertog, M. 
Weber, Walter Michael 
Sistani, Masiar 
-
Organisations­einheit: 
E362-02 - Forschungsbereich Nanoelektronische Bauelemente 
-
Erschienen in: 
Nanowire Week 2023 : Conference Information & Abstracts 
-
Datum (veröffentlicht): 
10-Okt-2023
-
Veranstaltungs­name: 
Nanowire Week 2023 
-
Veranstaltungs­zeitraum: 
9-Okt-2023 - 13-Okt-2023
-
Veranstaltungs­ort: 
Atlanta, Vereinigte Staaten von Amerika
-
Umfang: 
1
-
Keywords: 
bias; Spectroscopy; Ge
en
 
Nanowire; field effect transistor
-
Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Surfaces and Interfaces: 50%
-
Wissenschafts­zweig: 
2020 - Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik: 100%
-
Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

Zur Langanzeige

Seiten Aufrufe

76
aufgerufen am 01.12.2023

Download(s)

3
aufgerufen am 01.12.2023

Google ScholarTM

Check