Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/191472
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Titel: 
Identifying Electrically Active Dislocations in GaN and the Challenge of Cross-Correlative Physical Characterization
en
Zitat: 
Scales, Z., Koller, C. M., Schoemann, S., Nelhiebel, M., Reisinger, M., Jatzkowski, J., Diehle, P., & Stöger-Pollach, M. (2023, November 13). Identifying Electrically Active Dislocations in GaN and the Challenge of Cross-Correlative Physical Characterization [Conference Presentation]. ISTFA 2023, Phoenix, United States of America (the). http://hdl.handle.net/20.500.12708/191472
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Publikationstyp: 
Vortrag - Konferenz Präsentation
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Scales, Ze 
Koller, Christian Martin 
Schoemann, Stephan 
Nelhiebel, Michael 
Reisinger, Michael 
Jatzkowski, Joerg 
Diehle, Patrick 
Stöger-Pollach, Michael 
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Organisations­einheit: 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
E138 - Institut für Festkörperphysik 
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Datum (veröffentlicht): 
13-Nov-2023
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Veranstaltungs­name: 
ISTFA 2023 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
12-Nov-2023 - 16-Nov-2023
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Veranstaltungs­ort: 
Phoenix, Vereinigte Staaten von Amerika
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Keywords: 
Electrically Active Dislocations
en
Forschungs­infrastruktur: 
Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie 
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Link (extern): 
https://asm.confex.com/asm/istfa23/webprogram/Paper59261.html
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Surfaces and Interfaces: 30%
Structure-Property Relationsship: 20%
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Wissenschafts­zweig: 
1040 - Chemie: 30%
2100 - Nanotechnologie: 40%
1030 - Physik, Astronomie: 30%
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Enthalten in den Sammlungen:
Presentation

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