Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/195709
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Titel: 
A pCN-MCMC Method for a Bayesian Inverse Problem in Nanoscale Devices
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Zitat: 
Taghizadeh, L. (2024). A pCN-MCMC Method for a Bayesian Inverse Problem in Nanoscale Devices. In SIAM 2024 Searchable Abstracts Document: SIAM Conference on Uncertainty Quantification (UQ24) (pp. 124–124). SIAM.
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Taghizadeh, Leila 
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Organisations­einheit: 
E101-03-2 - Forschungsgruppe Unsicherheitsquantifizierung 
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Erschienen in: 
SIAM 2024 Searchable Abstracts Document: SIAM Conference on Uncertainty Quantification (UQ24) 
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Datum (veröffentlicht): 
21-Feb-2024
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Veranstaltungs­name: 
SIAM Conference on Uncertainty Quantification (UQ24) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
27-Feb-2024 - 1-Mär-2024
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Veranstaltungs­ort: 
Trieste, Italien
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Umfang: 
1
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Verlag: 
SIAM
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Keywords: 
Uncertainty Quantification; Bayesian Inverse Problems; Semiconductor Devices
en
Projekttitel: 
Rechnerische Unsicherheitsquantifizierung in Nanotechnologie: V 1000-N (FWF - Österr. Wissenschaftsfonds) 
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Forschungs­schwerpunkte: 
Mathematical and Algorithmic Foundations: 100%
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Wissenschafts­zweig: 
1010 - Mathematik: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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