Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/195709
-
Titel: 
A pCN-MCMC Method for a Bayesian Inverse Problem in Nanoscale Devices
-
Zitat: 
Taghizadeh, L. (2024). A pCN-MCMC Method for a Bayesian Inverse Problem in Nanoscale Devices. In SIAM 2024 Searchable Abstracts Document: SIAM Conference on Uncertainty Quantification (UQ24) (pp. 124–124). SIAM.
-
Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
-
Autor_innen: 
Taghizadeh, Leila 
-
Organisations­einheit: 
E101-03-2 - Forschungsgruppe Unsicherheitsquantifizierung 
-
Erschienen in: 
SIAM 2024 Searchable Abstracts Document: SIAM Conference on Uncertainty Quantification (UQ24) 
-
Datum (veröffentlicht): 
21-Feb-2024
-
Veranstaltungs­name: 
SIAM Conference on Uncertainty Quantification (UQ24) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
27-Feb-2024 - 1-Mär-2024
-
Veranstaltungs­ort: 
Trieste, Italien
-
Umfang: 
1
-
Verlag: 
SIAM
-
Keywords: 
Uncertainty Quantification; Bayesian Inverse Problems; Semiconductor Devices
en
Projekttitel: 
Rechnerische Unsicherheitsquantifizierung in Nanotechnologie: V 1000-N (FWF - Österr. Wissenschaftsfonds) 
-
Forschungs­schwerpunkte: 
Mathematical and Algorithmic Foundations: 100%
-
Wissenschafts­zweig: 
1010 - Mathematik: 100%
-
Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

Zur Langanzeige

Seiten Aufrufe

20
aufgerufen am 18.03.2024

Download(s)

4
aufgerufen am 18.03.2024

Google ScholarTM

Check