Datensatz Zitierlink: 
https://doi.org/10.34726/hss.2024.111400
http://hdl.handle.net/20.500.12708/197723
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Titel: 
Exploring the phase space of TM-Si-B2 materials by DFT based methods
en
Zitat: 
Gutschka, C. (2024). Exploring the phase space of TM-Si-B2 materials by DFT based methods [Diploma Thesis, Technische Universität Wien]. reposiTUm. https://doi.org/10.34726/hss.2024.111400
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reposiTUm-DOI: 
10.34726/hss.2024.111400
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CatalogPlus: 
AC17192417
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Publikationstyp: 
Hochschulschrift - Diplomarbeit
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Gutschka, Christian 
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Betreuer_in: 
Riedl-Tragenreif, Helmut 
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Organisations­einheit: 
E308 - Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnologie 
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Datum (veröffentlicht): 
2024
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Umfang: 
80
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Keywords: 
DFT; Thin Film Materials
en
Lizenz: 
Urheberrechtsschutz
de
Enthalten in den Sammlungen:
Thesis

Gutschka Christian - 2024 - Exploring the phase space of TM-Si-B2 materials by...pdf
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Embargo. Zugriff ab 31.05.2026
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