Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/213467
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Titel: 
Uncertainty Quantification in Semiconductor Models
en
Zitat: 
Taghizadeh, L. (2025, February 20). Uncertainty Quantification in Semiconductor Models [Conference Presentation]. 3rd IACM Digital Twins in Engineering Conference (DTE 2025) & 1st ECCOMAS Artificial Intelligence and Computational Methods in Applied Science (AICOMAS 2025), Paris, France. http://hdl.handle.net/20.500.12708/213467
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Publikationstyp: 
Vortrag - Konferenz Präsentation
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Taghizadeh, Leila 
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Organisations­einheit: 
E101-03-2 - Forschungsgruppe Unsicherheitsquantifizierung 
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Datum (veröffentlicht): 
20-Feb-2025
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Veranstaltungs­name: 
3rd IACM Digital Twins in Engineering Conference (DTE 2025) & 1st ECCOMAS Artificial Intelligence and Computational Methods in Applied Science (AICOMAS 2025) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
17-Feb-2025 - 21-Feb-2025
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Veranstaltungs­ort: 
Paris, Frankreich
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Keywords: 
Uncertainty quantification; Bayesian Inverse problems; semiconductor models
en
Projekttitel: 
Rechnerische Unsicherheitsquantifizierung in Nanotechnologie: V 1000-N (FWF - Österr. Wissenschaftsfonds) 
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Forschungs­schwerpunkte: 
Mathematical and Algorithmic Foundations: 100%
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Wissenschafts­zweig: 
1010 - Mathematik: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Presentation

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aufgerufen am 29.03.2025

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