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Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/65224
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Titel: 
Intelligent Metrology, Quality Assurance and Quality Management as Basis for Technical Diagnostics in Global Competitive Production
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Zitat: 
Osanna, P. H., Weseslindtner, H., Durakbasa, M. N., & Afjehi-Sadat, A. (2005). Intelligent Metrology, Quality Assurance and Quality Management as Basis for Technical Diagnostics in Global Competitive Production. In 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics (pp. 81–86). http://hdl.handle.net/20.500.12708/65224
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Full-Paper Contribution
de
Autor_innen: 
Osanna, Peter Herbert 
Weseslindtner, Helmar 
Durakbasa, M. Numan 
Afjehi-Sadat, Ali 
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Organisations­einheit: 
E311-01 - Forschungsbereich Fertigungstechnik 
E311-01-4 - Forschungsgruppe Fertigungsmesstechnik und adaptronische Systeme 
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Erschienen in: 
10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics 
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Datum (veröffentlicht): 
2005
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Veranstaltungs­name: 
Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference 
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Veranstaltungs­zeitraum: 
9-Jun-2005 - 10-Jun-2005
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Veranstaltungs­ort: 
Budapest, Hungary, Österreich
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Umfang: 
6
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Peer Reviewed: 
Nein
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Wissenschafts­zweig: 
Maschinenbau, Instrumentenbau
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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