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Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/80966
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Titel: 
Measurement of Atomic Electric Fields by Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Employing Ultrafast Detectors
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Zitat: 
Müller-Caspary, K., Krause, F., Béché, A., Duchamp, M., Schowalter, M., Huth, M., Löffler, S., & Rosenauer, A. (2016). Measurement of Atomic Electric Fields by Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Employing Ultrafast Detectors. Microscopy & Microanalysis 2016 Meeting, Columbus, Ohio, Non-EU. http://hdl.handle.net/20.500.12708/80966
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Publikationstyp: 
Präsentation - Konferenz Präsentation
de
Autor_innen: 
Müller-Caspary, Knut 
Krause, Florian 
Béché, Armand 
Duchamp, Martial 
Schowalter, Marco 
Huth, Martin 
Löffler, Stefan 
Rosenauer, Andreas 
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Organisations­einheit: 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
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Datum (veröffentlicht): 
2016
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Veranstaltungs­name: 
Microscopy & Microanalysis 2016 Meeting 
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Veranstaltungs­zeitraum: 
24-Jul-2016 - 28-Jul-2016
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Veranstaltungs­ort: 
Columbus, Ohio, Außerhalb der EU
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Wissenschafts­zweig: 
Physik, Astronomie
Chemie
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Enthalten in den Sammlungen:
Presentation

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