Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/140572
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Titel: 
Refitting an X-ray diffraction system for combined GIXRF and XRR measurements
en
Zitat: 
Ingerle, D., Artner, W., Hradil, K., & Streli, C. (2020). Refitting an X-ray diffraction system for combined GIXRF and XRR measurements. Powder Diffraction, 35(S1), S29–S33. https://doi.org/10.1017/s088571562000041x
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Verlags-DOI: 
10.1017/s088571562000041x
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Publikationstyp: 
Artikel - Forschungsartikel
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Ingerle, Dieter 
Artner, Werner 
Hradil, Klaudia 
Streli, Christina 
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Organisations­einheit: 
E141-05 - Forschungsbereich Radiation Physics 
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Zeitschrift: 
Powder Diffraction 
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ISSN: 
0885-7156
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Datum (veröffentlicht): 
2020
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Umfang: 
5
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Verlag: 
CAMBRIDGE UNIV PRESS
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Peer Reviewed: 
Ja
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Keywords: 
Condensed Matter Physics; General Materials Science; Instrumentation; Radiation
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Forschungs­schwerpunkte: 
Special and Engineering Materials: 100%
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Wissenschafts­zweig: 
Physik, Astronomie
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Enthalten in den Sammlungen:
Article

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