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Erscheinungsjahr
Datensatz Zitierlink:
http://hdl.handle.net/20.500.12708/146276
-
Titel:
Can Dark Silicon Be Exploited to Prolong System Lifetime?
-
Zitat:
Haghbayan, M.-H., Rahmani, A.-M., Liljeberg, P., Jantsch, A., Miele, A., Bolchini, C., & Tenhunen, H. (2017). Can Dark Silicon Be Exploited to Prolong System Lifetime?
IEEE Design and Test
,
34
(2), 51–59. https://doi.org/10.1109/mdat.2016.2630317
-
Verlags-DOI:
10.1109/mdat.2016.2630317
-
Publikationstyp:
Artikel - Forschungsartikel
de
Sprache:
Englisch
-
Autor_innen:
Haghbayan, Mohammad-Hashem
Rahmani, Amir-Mohammad
Liljeberg, Pasi
Jantsch, Axel
Miele, Antonio
Bolchini, Christiana
Tenhunen, Hannu
-
Organisationseinheit:
E384-02 - Forschungsbereich Systems on Chip
-
Zeitschrift:
IEEE Design and Test
-
ISSN:
2168-2356
-
Datum (veröffentlicht):
2017
-
Umfang:
9
-
Verlag:
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
-
Peer Reviewed:
Ja
-
Keywords:
Electrical and Electronic Engineering; Software; Hardware and Architecture
-
Forschungsschwerpunkte:
Computer Engineering and Software-Intensive Systems: 100%
-
Wissenschaftszweig:
Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik
-
Enthalten in den Sammlungen:
Article
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97
aufgerufen am 20.11.2023
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