Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/176842
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Titel: 
Understanding interaction forces at silicon wafer interfaces to optimize nanoscale cleaning processes (poster)
en
Zitat: 
Miano, D. (2023, May). Understanding interaction forces at silicon wafer interfaces to optimize nanoscale cleaning processes (poster) [Conference Presentation]. 2nd Conference of Applied Surface Technology (COAST 2023), Wien, TU, Austria. http://hdl.handle.net/20.500.12708/176842
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Publikationstyp: 
Vortrag - Konferenz Präsentation
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Miano, Daniela 
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Organisations­einheit: 
E134-02 - Forschungsbereich Applied Interface Physics 
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Datum (veröffentlicht): 
Mai-2023
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Veranstaltungs­name: 
2nd Conference of Applied Surface Technology (COAST 2023) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
2-Mai-2023 - 3-Mai-2023
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Veranstaltungs­ort: 
Wien, TU, Österreich
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Keywords: 
Angewandte Grenzflächenphysik
de
Link (extern): 
coast.cest.at
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Surfaces and Interfaces: 50%
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Wissenschafts­zweig: 
1030 - Physik, Astronomie: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Presentation

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