Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/219506
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Titel: 
PDE-based Bayesian Inversion in Nanoelectronics
en
Zitat: 
Taghizadeh, L. (2025). PDE-based Bayesian Inversion in Nanoelectronics. In European Conference on Numerical Mathematics and Advanced Applications 2025 : Book of Abstracts (pp. 162–162).
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Taghizadeh, Leila 
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Organisations­einheit: 
E101-03-2 - Forschungsgruppe Unsicherheitsquantifizierung 
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Erschienen in: 
European Conference on Numerical Mathematics and Advanced Applications 2025 : Book of Abstracts 
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Datum (veröffentlicht): 
4-Sep-2025
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Veranstaltungs­name: 
European Conference on Numerical Mathematics and Advanced Applications (ENUMATH 2025) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
1-Sep-2025 - 5-Sep-2025
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Veranstaltungs­ort: 
Heidelberg, Deutschland
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Umfang: 
1
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Keywords: 
Uncertainty quantification; Infinite-dimensional Bayesian inverse problem; Markov chain Monte Carlo methods; semiconductor devices
en
Projekttitel: 
Rechnerische Unsicherheitsquantifizierung in Nanotechnologie: V 1000-N (FWF - Österr. Wissenschaftsfonds) 
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Forschungs­schwerpunkte: 
Mathematical and Algorithmic Foundations: 100%
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Wissenschafts­zweig: 
1010 - Mathematik: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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