Saria, C. (2026). Software zur quantitativen Röntgenuoreszenzanalyse mittels fundamentaler Parameter unter Verwendung nonlinear least square fitting [Diploma Thesis, Technische Universität Wien]. reposiTUm. https://doi.org/10.34726/hss.2026.138481
E057 - Core Facilities and Centers E057-04 - Fachbereich Röntgenzentrum
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Date (published):
2026
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Number of Pages:
122
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Keywords:
EDXRF; quantifizierung; dark matrix
de
EDXRF; qauntification; dark matrix
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Abstract:
Die Arbeit entwickelt und validiert eine Software zur quantitativen Röntgenuoreszenz-Analyse (RFA) auf Basis fundamentaler Parameter. Ausgehend von den Wechselwirkungsmechanismen (Photoeekt, Rayleigh/Compton) werden Intensitätsformeln für dünne und unendlich dicke Proben hergeleitet und um Sekundäranregung ergänzt. Röhrenspektren werden mit zwei Modellen (Wiederschwinger; Love & Scott) für Brems- und charakteristische Strahlung simuliert und die Detektorezienz wird modelliert. Für dicke Proben wird gezeigt, dass berechnete Linien- intensitäten nur von Konzentrationsverhältnissen abhängen (Skalierungsinvarianz), woraus ein Nonlinear-Least-Squares-Ansatz mit Reparametrisierung folgt. Nicht messbare Leicht-Elemente (Z < 12) werden als "Dark-Matrix" über eine Verteilungsannahmen und eine Ziel-Ordnungszahl Z eingebunden, wobei das Verhältnis der Compton/Rayleigh-Streuung zur Schätzung von Z dient. Praktische Aspekte betreen die Bestimmung eines (eigentlich konstanten) Geometriefaktors und die Anpassung unsicherer Geräteparameter. Hierfür werden Grid-Suche sowie die derivatenfreie BOBYQA-Minimierung eingesetzt. Messreihen an drei Setups (Epsilon 5, Mo- nomicro, Tracor) zeigen: Monochromatische Anregung liefert sehr gute Übereinstimmung von Theorie und Experiment, bei Röhrenanregung sind spektrale Modellunsicherheiten dominant, können jedoch durch wohlüberlegte Parameter und gegebenenfalls durch mathematische Fil- terfunktionen deutlich reduziert werden. Insgesamt ermöglicht die Software reproduzierbare, schnelle und transparente Quantizierungen auch bei komplexen Matrizes mit Leicht-Element- Anteilen.
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This work develops and validates software for quantitative X-ray uorescence analysis (XRF) based on fundamental parameters. Starting from the interaction mechanisms (photoelectric ef- fect, Rayleigh/Compton), intensity formulas for thin and innitely thick samples are derived and supplemented by secondary excitation. Tube spectra are simulated using two models (Wie- derschwinger; Love & Scott) for bremsstrahlung and characteristic radiation, and the detector eciency is modeled. For thick samples, it is shown that calculated line intensities depend on- ly on concentration ratios (scaling invariance), from which a nonlinear least squares approach with reparameterization follows. Non-measurable light elements (Z < 12) are incorporated as a dark matrix via a distribution assumption and a target atomic number Z, whereby the ratio of Compton/Rayleigh scattering is used to estimate Z. Practical aspects concern the de- termination of a (actually constant) geometry factor and the adjustment of uncertain device parameters. Grid search and derivative-free BOBYQA minimization are used for this purpose. Measurement series on three setups (Epsilon 5, Monomicro, Tracor) show: Monochromatic ex- citation provides very good agreement between theory and experiment; with tube excitation, spectral model uncertainties are dominant, but can be signicantly reduced by carefully consi- dered parameters and, if necessary, mathematical lter functions. Overall, the software enables reproducible, fast, and transparent quantications even for complex matrices containing light elements.
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Additional information:
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