Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/79615
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Titel: 
Ion diffusion and migration in semiconductor passivation and encapsulation materials
en
Zitat: 
Schwab, S. (2017). Ion diffusion and migration in semiconductor passivation and encapsulation materials [Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/79615
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CatalogPlus: 
AC14479160
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Publikationstyp: 
Hochschulschrift - Dissertation
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Schwab, Stefan 
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Betreuer_in: 
Hutter, Herbert 
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Organisations­einheit: 
E164 - Institut für Chemische Technologien und Analytik 
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Datum (veröffentlicht): 
2017
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Umfang: 
98
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Keywords: 
Ionendiffusion; Ionenmigration; Halbleiter; Transistoren; Zuverlässigkeit; Analytik; TOF-SIMS
de
 
Ion diffusion; Ion migration; Ion mobility; Semiconductor; Reliability; Analytics; TOF-SIMS
en
Enthalten in den Sammlungen:
Thesis

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