Larisegger, S. (2015). Corrosion phenomena and corrosion prevention of copper electrodes in semiconductor devices [Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/79970
Es wurde ein Korrosionstest für Cu-Strukturen auf verschiedenen Substraten entwickelt; damit wurden elektrochemische Korrosionsmechanismen wie Dendritenbildung und Pitting untersucht und Maßnahmen zum Korrosionsschutz bewertet.
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A corrosion test for Cu structures in various substrates was developed. By this test, electrochemical corrosion mechanisms such as dendrite formation and pitting were studied, and anti-corrosion measured were assessed
en
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Zusammenfassung in deutscher Sprache Abweichender Titel laut Übersetzung der Verfasserin/des Verfassers
