Record link: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/190363
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Title: 
Lebensdauerprognose von IGBT-Modulen in Rekordzeit mit BAMFIT-Bondtester
de
Citation: 
Khatibi Damavandi, G., & Czerny, B. (2023, October). Lebensdauerprognose von IGBT-Modulen in Rekordzeit mit BAMFIT-Bondtester. PLUS - Produktion von Leiterplatten und Systemen, 10/2023, 1311–1320. http://hdl.handle.net/20.500.12708/190363
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Publication Type: 
Special Contribution - Article in a Magazine
en
Language: 
German
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Authors: 
Khatibi Damavandi, Golta 
Czerny, Bernhard 
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Organisational Unit: 
E164-03-2 - Forschungsgruppe Mechanische Eigenschaften und Zuverlässigkeit 
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Published in: 
PLUS - Produktion von Leiterplatten und Systemen 
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Date (published): 
Oct-2023
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Number of Pages: 
10
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Keywords: 
semiconductors; wire bonds; reliability; lifetime testing
en
Research Areas: 
Surfaces and Interfaces: 60%
Modeling and Simulation: 10%
Structure-Property Relationsship: 30%
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Science Branch: 
1040 - Chemie: 50%
1030 - Physik, Astronomie: 50%
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Appears in Collections:
Special Contribution

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