Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/196192
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Titel: 
Impact of Single Defects on NBTI and PBTI Recovery in SiO₂ Transistors
en
Zitat: 
Tselios, K., Knobloch, T., Michl, J. D., Waldhör, D., Schleich, C., Ioannidis, E., Enichlmair, H., Minixhofer, R., Grasser, T., & Waltl, M. (2022). Impact of Single Defects on NBTI and PBTI Recovery in SiO₂ Transistors. In Proceedings 2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) (pp. 1–5). https://doi.org/10.1109/IIRW56459.2022.10032748
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Verlags-DOI: 
10.1109/IIRW56459.2022.10032748
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Full-Paper Contribution
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Tselios, Konstantinos 
Knobloch, Theresia 
Michl, Jakob Daniel 
Waldhör, Dominic 
Schleich, Christian 
Ioannidis , Eleftherios 
Enichlmair , Hubert 
Minixhofer , Rainer 
Grasser, Tibor 
Waltl, Michael 
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Organisations­einheit: 
E360 - Institut für Mikroelektronik 
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Erschienen in: 
Proceedings 2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 
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ISBN: 
978-1-6654-5368-4
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Datum (veröffentlicht): 
Okt-2022
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Veranstaltungs­name: 
2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
9-Okt-2022 - 14-Okt-2022
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Veranstaltungs­ort: 
Fallen Leaf Lake, CA, Vereinigte Staaten von Amerika
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Umfang: 
5
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Peer Reviewed: 
Ja
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Keywords: 
Negative bias temperature instability; Silicon compounds; Thermal variables control; Current measurement; Exponential distribution; Threshold voltage; Nanoscale devices; Single defects; Charge Trapping; Positive and negative bias temperature instability (PBTI, NBTI); Complementary cumulative distribution function (CCDF); Exponential step height distribution
en
Forschungs­infrastruktur: 
Zentrum für Mikro & Nanostrukturen 
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Projekttitel: 
CD-Labor für Einzeldefektspektroskopie in Halbleiterbauelementen: 00000000 (Christian Doppler Forschungsgesells) 
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Nanoelectronics: 50%
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Wissenschafts­zweig: 
2020 - Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik: 100%
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Enthalten in den Sammlungen:
Conference Paper

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